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Bienvenidos a la página en español del portal del ICDD


El International Centre for Diffraction Data® (ICDD®) es una organización científica sin ánimo de lucro dedicada a recopilar, editar, publicar y distribuir datos de difracción de polvo para la identificación de materiales cristalinos. Los miembros del ICDD constituyen una representación de sectores académicos, gubernamentales e industriales de todas partes del mundo.

Desde este portal usted podrá acceder a diferentes páginas en español que contienen información general acerca de los productos y servicios del International Centre for Diffraction Data (ICDD). Estas páginas aparecen resaltadas en la sección [color], a continuación. Estas páginas han sido modificadas para presentar la información general en español.

Por favor utilice los enlaces en inglés para información específica de productos y para información actualizada sobre clínicas educativas y otros eventos.

La persona con quien puede contactar es un científico miembro del ICDD, quien es bilingüe, y puede ayudarle con cualquier pregunta o inquietud, en general.

Acerca del ICDD

El International Centre for Diffraction Data® (ICDD®) es una organización científica sin ánimo de lucro dedicada a recopilar, editar, publicar y distribuir datos de difracción de polvos para la identificación de materiales cristalinos. Los miembros del ICDD constituyen una representación de sectores académicos, gubernamentales e industriales de todas partes del mundo.

Nuestra Visión: el ICDD continuará desarrollando herramientas y apoyando la educación necesaria para los análisis de materiales del mañana.

Nuestra Misión: el ICDD continuará siendo el centro mundial de la difracción de calidad y datos relacionados para satisfacer las necesidades de la comunidad técnica. El ICDD promueve la aplicación de métodos de caracterización de materiales, en la ciencia y en la tecnología, proporcionando foros para el intercambio de ideas e información.

Breve Historia del ICDD
Luego del desarrollo de las primeras técnicas de difracción de rayos-X en polvos a principios de siglo veinte, se hizo necesario un centro de recolección de patrones de difracción de fases conocidas. Después de la aparición de dos importantes publicaciones a finales de 1930 sobre el archivo y uso de los datos de polvo para un análisis de fases escritas por científicos de la compañía DOW, se fundó en 1941 el Joint Committee for Chemical Analysis by Powder Diffraction Methods (Comité Conjunto para el Análisis Químico por Métodos de Difracción de Polvos). Ellos produjeron una primera referencia de datos de difracción de rayos-X de polvos, que llegó a conocerse como Powder Diffraction File™ (PDF®). Este esfuerzo fue inicialmente apoyado por el Committee E-4 de la American Society for Testing and Materials (ASTM). Durante las siguientes dos décadas, otras organizaciones profesionales apoyaron este proyecto, que condujo al establecimiento del Joint Committee on Powder Diffraction Standards (JCPDS) en 1969. El JCPDS fue registrado como corporación para continuar con la misión de mantener el PDF. En 1978, se cambió el nombre de la organización a International Centre for Diffraction Data para destacar el compromiso mundial de este esfuerzo científico.

La Organización del ICDD
Los miembros activos del ICDD son aproximadamente unos 300 científicos de todas partes del mundo, entre los cuales la organización elige a los integrantes de su Junta de Directores, de los comités y de los subcomités. Los miembros, que son voluntarios, están vinculados activamente en desarrollos, en el campo de la difracción de rayos-X de polvos y otras disciplinas relacionadas. Los miembros son científicos de diversas instituciones – educativas, gubernamentales e industriales. La reunión anual de los miembros constituye un foro para el intercambio de ideas e información pertinentes para la comunidad científica, al igual que para organizar, planear y revisar las políticas y procedimientos del ICDD. El cuerpo de empleados asalariados, tanto científicos como administrativos, que trabajan en la sede del ICDD, en Newtown Square, Pennsylvania, son los responsables de la producción y distribución de las diferentes bases de datos ofrecidos por el ICDD.

El Fondo para Becas para Cristalografía Ludo Frevel
El ICDD ha creado un fondo para becas destinados al estudio de la cristalografía a fin de alentar a los graduados prometedores a continuar con la investigación orientada a dicha temática, ahora conocido como el Fondo para Becas para Cristalografía Ludo Frevel. Su nombre fue adoptado en honor a un pionero de la ciencia de la difracción de rayos-X y fundador del fondo, el Dr. Ludo Frevel. Convencido del beneficioso impacto científico de las becas propuestas para la investigación orientada a la cristalografía, el ICDD ha solicitado fondos a los sectores privados e industriales a fin de apoyar este programa. A la fecha, el ICDD ha otorgado 191 becas desde 1991, lo que asciende a un total de aproximadamente USD $454,750. Si desea obtener más información, contáctese con Stephanie Jennings (sjennings@icdd.com).

El Powder Diffraction File ™ 
El Powder Diffraction File™ (PDF®) es un archivo de patrones de difracción de rayos-X de polvos constituidos por una sola fase, presentados en forma de tablas con la información sobre los espaciamientos interplanares y las correspondientes intensidades relativas, junto a otras propiedades bibliográficas, físicas y cristalográficas pertinentes de cada fase. La creación, el mantenimiento y la distribución de dicho archivo fue el propósito primario para el establecimiento del ICDD y de sus organizaciones predecesoras.

Para satisfacer las necesidades individuales de los usuarios de técnicas de difracción a nivel mundial, el Powder Diffraction File™ está disponible en varios medios – libros, USB y DVD. El PDF contiene varias subcarpetas de datos que incluyen, entre otros, minerales, metales y aleaciones, y materiales forenses. También existe un paquete educativo para uso en salones de clases. Varios métodos, que incluye el uso de índices impresos y programas de computación, permiten a los usuarios comparar datos experimentales obtenidos en el laboratorio con los datos contenidos en el PDF.

Adquisición de Datos para el PDF ® 
Los datos que publican en el Powder Diffraction File™ se adquieren a través de contribuciones individuales de científicos, laboratorios de corporaciones, revisiones en la literatura especializada y el programas de apoyo económico Grant-in-Aid. Se revisan unas 200 prestigiosas publicaciones científicas, en busca de datos de difracción de polvos y se revisan miles de ellas mediante búsquedas por palabras clave. Adicionalmente, se revisan patentes, tesis de grado, y otras publicaciones utilizando diversas técnicas de búsqueda en varias bases de datos bibliográficos en línea. El Powder Diffraction File cita más de 1,3 millones de referencias.

Igualmente, se adquieren datos a través de una serie de acuerdos de colaboración históricos con varias organizaciones internacionales de bases de datos. Estos incluyen el National Institute of Standards and Technology (NIST), Fachinformationszentrum (FIZ), el Cambridge Crystallographic Data Centre (CCDC), y el Material Phases Data System (MPDS).

Control de Calidad del PDF
Todos los datos son revisados y evaluados críticamente por el personal editorial. Antes de su inclusión en el PDF, cada patrón debe pasar por un proceso de revisión editorial que comprende cuatro etapas. A medida que la tecnología se desarrolla, también evolucionan los requerimientos de calidad de los patrones de referencia. Por ello, la información contenida en el PDF se revisa y actualiza constantemente con mejores criterios de calidad.

Declaraciones sobre la Misión

Comité de Premios y Reconocimientos
La misión del Comité de Premios y Reconocimientos es asegurar que los diversos reconocimientos que otorga el ICDD sean entregados oportunamente.

Comité de Estatutos
El Comité de Estatutos será responsable de las revisiones de los estatutos:

  • Asegurar (a través del Asesor Legal del ICDD) que las revisiones de los estatutos se hagan conformes a las leyes de Pennsylvania y de las leyes de los Estados Unidos de Norte América que rigen a las organizaciones educativas sin fines de lucro, que están exentas del pago de impuestos.
  • Revisar periódicamente el propósito de la corporación.
  • Realizar las reuniones programadas por el Comité de Estatutos para una aprobación en primera instancia de cualquier revisión propuesta para, posteriormente, presentar las posibles revisiones a la Junta de Directores para su consideración.
  • Clarificar los estatutos actuales, esto es, resolver cualquier contradictoria que pudiera existir, resolver cualquier aspecto ambiguo de lenguaje, proponer posibles enmiendas siguiendo pautas aprobadas.

Comité de Beneficios para los Empleados
El Comité de Beneficios para los Empleados será responsable de revisar anualmente el programa de beneficios para los empleados y de recomendar a la Junta de Directores las mejoras, modificaciones y el inicio de nuevos programas para mantener un razonable y actualizado paquete de beneficios para los empleados del ICDD.

Comité de Apoyo Financiero
El Comité de Apoyo Financiero deberá revisar las solicitudes de apoyo financiero y hacer las recomendaciones a la Junta de Directores sobre la asignación de los fondos para apoyar proyectos en el marco del propósito de la corporación.

Comité de Planificación de Largo Alcance
El Comité de Planificación de Largo Alcance será responsable de revisar la misión del ICDD, los objetivos básicos y las facilidades, formulando las recomendaciones a la Junta de Directores para promover el crecimiento continuo y la seguridad de la corporación.

Comité de Apoyo a Reuniones
El Comité de Apoyo a Reuniones revisa las solicitudes de financiamiento de varias organizaciones internacionales y asigna fondos basándose en los méritos de las solicitudes. Los méritos se valoran por la coincidencia de los lineamientos de las reuniones con la misión educativa del ICDD. El comité puede recomendar a la Junta de Directores cambios en la asignación o dirección de los fondos. El comité está integrado de 4 a 6 miembros del ICDD. La planilla de solicitud y los criterios para el financiamiento están colocados en el portal del ICDD.

Comité de Miembros
El objeto del Comité de Miembros tiene dos partes: (1) Identificar posibles miembros internacionales provenientes de corporaciones industriales, instituciones educativas y agencias gubernamentales que puedan proporcionar al ICDD experiencia técnica en difracción de polvos y áreas relacionadas, que estén dispuestos a participar como miembros voluntarios en las actividades de varios comités y/o sub-comités, (2) desarrollar y ejecutar un plan estratégico para el mejor uso del carácter de miembro para mejorar el valor del PDF y de los análisis de rayos-X. Vea también: Miembros.

Comité de Becas
El Comité de Becas está integrado por un grupo internacional de miembros del ICDD, quienes revisan las propuestas para becas del programa Ludo Frevel Crystallography Scholarships. Estas becas son financiadas a través de generosas contribuciones de miembros, institutos y corporaciones. Puede encontrar la información correspondiente a este Programa en el portal del ICDD.

Comité de Finanzas
El Comité de Finanzas será responsable de los siguientes aspectos:

  • Ejecutar las políticas financieras del ICDD, luego de establecidas por la Junta de Directores.
  • Hacer recomendaciones con respecto a desembolsos e inversiones de fondos.
  • Hacer recomendaciones con respecto al precio de los productos.
  • Monitorear el presupuesto.
  • Preparar y presentar, en cada Reunión Anual del ICDD un reporte correspondiente al estado financiero de la corporación.
  • Los subcomités de Mercadeo y Ventas, y Revisión de Presupuesto dependen del Comité de Finanzas.

Subcomités pertenecientes al Comité de Finanzas
Subcomité de Revisión de Presupuesto
El subcomité de Revisión del Presupuesto deberá preparar un proyecto de presupuesto anual que presentará al Comité de Finanzas para su consideración.

Subcomité de Mercadeo
La misión del subcomité de mercadeo será asesorar a la Junta de Directores, a través del Comité de Finanzas, en estrategias que aseguren la buena posición financiera de la organización. Estas estrategias abarcarán iniciativas de la venta de productos y relaciones públicas fundamentales enfocadas hacia el aporte del ICDD en la comunidad científica. La agenda de dicho subcomité incluirá la evaluación de los planes de mercadeo y del desempeño de la Oficina central en estas materias.

Comité Técnico – Ver Registro para Subcomité Técnico
El Comité Técnico será responsable de lo siguiente:

  • Recomendaciones relacionadas con las funciones editoriales del ICDD.
  • Recomendaciones relacionadas con la funcionalidad de la administración en los editoriales técnicos.
  • Recomendaciones en la recolección y edición de datos, manuales de búsqueda, etc.
  • Recomendaciones en la preparación de medios para computadoras, discos, etc., relacionados con las bases de datos del ICDD y los programas de búsqueda.
  • Recomendaciones relacionadas con la preparación de secciones de la base de datos enfocados en áreas tecnológicas específicas (subcarpetas).
  • Recomendaciones referentes a las investigaciones y desarrollos, educación y entrenamiento patrocinados por el ICDD.
  • Cooperación entre sociedades.

Subcomité de Materiales
Subcomité de Cerámicas
El Subcomité de Cerámicas será responsable de (1) identificar los compuestos cerámicos en el PDF, (2) organizar las subcarpetas y archivos de los cerámicos acorde a sus funciones y propiedades, (3) asegurar la relevancia y calidad de los datos actuales y futuros para satisfacer las necesidades de la comunidad de usuarios.

Subcomité de Metales y Aleaciones
El Subcomité de Metales y Aleaciones será responsable de (1) asegurar que la subcarpeta de Metales y Aleaciones satisfaga las necesidades, actuales y futuras, de metalúrgicos y científicos de los materiales, (2) desarrollar y actualizar la subcarpeta de Metales y Aleaciones, (3) editar los datos de Metales y Aleaciones para asegurar un alto estándar de calidad, (4) extender la cobertura y uso de la subcarpeta de Metales y Aleaciones.

Subcomité Micro y Meso
El subcomité Micro y Meso identificará sistemas en los cuales las características de ordenamiento a escala nano, meso y micro son importantes en el patrón de difracción del material y en su desempeño; también identificará cómo el ICDD y el PDF pueden servir a la comunidad científica propocionando material de referencia y recursos, creando o adaptando descripciones formales de estos materiales y contribuyendo al grupo de técnicas con las cuales se pueden caracterizar estos materiales.

Subcomité de Minerales
El objetivo del Subcomité de Minerales debe ser mantener la calidad de los productos utilizados por la comunidad mineralógica e industrial. Además, los propósitos del subcomité deberán ser continuar la evolución de productos que sirven a estas comunidades y mantener la base de datos lo más actualizado posible.

Subcomité Orgánico y Farmacéutico
La misión del Subcomité Orgánico y Farmacéutico será incrementar el valor y uso exitoso de la sección orgánica del PDF por la comunidad de difracción. El subcomité deberá (1) proveer soporte técnico para todos los productos orgánicos de la base de datos, (2) apoyar los esfuerzos que demuestre las capacidades de dicha base de datos.

Subcomité de Polímeros
El Subcomité de Polímeros deberá facilitar a la comunidad de dispersión/difracción en polímeros el mejor uso de datos de difracción/dispersión para el análisis de materiales polímeros. Eso incluye producción de bases de datos, promover las mejores prácticas de análisis de datos, incentivar a los laboratorios nacionales y compañías fabricantes de instrumentos para establecer instrumentación y software amigable, educando a la comunidad de difracción a cerca de problemática que tiene un impacto especial en la caracterización de polímeros, y educando la comunidad de los polímeros en la importancia de una evaluación cuidadosa e integral de los datos difractométricos.

Subcomité de Métodos de Caracterización y Herramientas
Subcomité de Difracción de Electrones
El Subcomité de Difracción de Electrones sirve como puente entre la comunidad que usa la difracción de electrones y las otras partes del ICDD. Deberá comunicar las necesidades de los usuarios de la difracción de electrones al ICDD, para hacer que el ICDD puede responder más efectivamente a esas necesidades. Apoyará la comunicación a la comunidad que usa la difracción de electrones sobre la manera como el ICDD puede ayudarlos. Para este fin, cooperará con otros subcomités del ICDD y con la organización central del ICDD. Específicamente, el Subcomité deberá monitorear el status y sugerir mejoras en la base de datos y productos relacionados utilizados en la difracción de electrones, incluyendo aquellos producidos por otras organizaciones, así como los producidos por el ICDD.

Subcomité de Difracción No-Ambiente
El Subcomité de Difracción No-Ambiente está organizado para facilitar el uso del PDF por la comunidad que hace difracción en condiciones diferentes a las de temperatura y presión normal. Hace recomendaciones al ICDD acerca de cómo los datos de difracción obtenidos en condiciones diferentes a las de temperatura y presión normal deben ser incorporados en el PDF. Sugiere actividades específicas de investigación que pueden resultar en producción de nuevos patrones para el PDF. Igualmente, mantiene contacto con diversas investigaciones y grupos administrativos alrededor del mundo para el intercambio de información acerca de nuevos desarrollos en técnicas y resultados en difracción en condiciones diferentes a las de temperatura y presión normal.

Subcomité de Métodos de Difracción en Sincrotrón
El Subcomité de Métodos de Difracción en Sincrotrón deberá satisfacer las necesidades específicas de la comunidad de difracción de polvos con radiación de Sincrotrón para el beneficio de toda la comunidad de difracción de polvos. En particular, el Subcomité ayudará a los usuarios de Sincrotrón para que provean sus datos al ICDD y asistir al personal técnico del ICDD sobre la manera de integrar estos a la base de datos del ICDD.

Subcomité de Métodos de Difracción de rayos-X
El Subcomité de Métodos de Difracción de rayos-X hará recomendaciones sobre los datos para ser incluidos en el PDF considerando la configuración de instrumentos, las formas de recolección de datos y cálculos en patrones de polvo, con énfasis particular en los métodos más innovadores y modernos.

Subcomité XRF
El Subcomité XRF (Fluorescencia de rayos-X) proporciona asesoría y guía a los miembros y al personal del ICDD relacionados con las actividades educativas y otros aspectos de XRF con la base de datos de ICDD. Las publicaciones de la Denver X-ray Conference y la revista especializada, Advances in X-ray Analysis y Powder Diffraction, contienen abundante material sobre XRF y el ICDD dirige dos clínicas educativas especializadas en XRF cada año.

Subcomité del ICDD
Subcomité Educativo
El Subcomité Educativo será responsable del desarrollo de materiales educativos, la implementación de talleres, programas audio-visuales y sesiones especiales en conferencias basadas en la adquisición y utilización de datos de difracción con énfasis en el PDF y sus sistemas manuales y automatizados de búsqueda/superposición. Además, motivará la enseñanza de los métodos de difracción de polvos en instituciones educativas.
El Subcomité Educativo será responsable de organizar información acerca de la seguridad en el uso de rayos-X, de proveer listas y enlaces relacionados con herramientas de software de difracción de polvos y florescencia de rayos-X.

Subcomité del Personal Editorial del PDF
El Subcomité del Personal Editorial del PDF será responsable de evaluar y recomendar mejoras en la edición y procedimientos bibliográficos del ICDD.

Descripción de Productos

El ICDD continua cumpliendo con su misión al obtener datos de diversas fuentes globales y proporcionar amplias revisiones editoriales para estandarizar los datos, añadir datos estructurales y de materiales, y proporcionar evaluaciones de calidad.

El propósito primordial de todas las bases de datos del ICDD es facilitar la identificación de materiales. Aún cuando el PDF-2 y el PDF-4+ son principalmente inorgánicos y el PDF-4/Orgánico es principalmente de materiales orgánicos y organometálicos, entradas cruzadas de fases comunes son integradas deliberadamente para ayudar en la identificación de materiales.

El ICDD continúa recibiendo entradas de sus fuentes históricas de datos de difracción en polvos, del programa Grant-in-Aid del ICDD, de contribuciones y búsquedas bibliográficas. El gran crecimiento de entradas experimentado desde 1997 fue posible por la serie de colaboraciones estratégicas entre el ICDD y organizaciones internacionales de bases de datos cristalográfícos. Los socios con los que colaboramos actualmente y las colaboraciones históricas incluyen:

  • Cambridge Crystallographic Data Centre (CCDC) Cambridge, UK.
  • FIZ Karlsruhe — Leibniz Institute for Information Infrastructure (FIZ) Karlsruhe, Germany.
  • National Institute of Standards and Technology (NIST) Gaithersburg, Maryland.
  • Material Phases Data System (MPDS) Vitznau, Switzerland.

Estas colaboraciones también han generado mayor diversidad de productos de bases de datos del ICDD. El PDF-4+ y el PDF-4/Minerales son las únicas bases de datos que contienen datos provenientes de la colaboración con el MPDS. El PDF-4/Orgánicos es la única base de datos que contiene datos del CCDC.

Las Bases de Datos PDF
El Powder Diffraction File contiene más de 871.758 entradas de datos de materiales únicos. Cada conjunto de datos contiene datos de difracción, datos cristalográficos y bibliográficos, así como también las condiciones experimentales, instrumentales y de muestras, junto a la información propiedades físicas seleccionadas en un formato estandarizado común. El PDF contiene información de trabajos colectivos de más de 2.000 revistas periódicas especializadas y cientos de miles de autores. El ICDD recolecta datos de nuevos materiales, emergentes y comerciales, a través de un Programa Anual de Apoyo. Cada año, a unos 50 importantes laboratorios de materiales del mundo se les otorga apoyo para que analicen y caractericen nuevos materiales para su inclusión en el PDF. La cobertura más grande y completa del PDF se logra a través de procesos de revisión bibliográfica realizada por el propio ICDD, también por medio de colaboraciones con las bases de datos de organizaciones globales.

La base de datos es diseñada y producida en varios formatos con la finalidad de servir a diferentes grupos de usuarios.

El PDF-2 es un producto de la colaboración entre el ICDDFIZ y NIST y está diseñada para el análisis de materiales inorgánicos. Muchos materiales orgánicos comunes se añaden a esta base de datos para facilitar la identificación rápida de materiales. (comprar)

El PDF-4+ es una base de datos avanzada que contiene datos del PDF-2 y los provenientes de la colaboración entre el ICDD y el MPDS. Está diseñada para realizar análisis cuantitativos (RietveldRIR y Pattern Fitting) al igual que para la identificación de materiales. Esta base de datos tiene una cobertura completa de materiales inorgánicos y contiene numerosas características como patrones digitalizados, gráficos moleculares y parámetros atómicos. Nuevos aspectos de interés han sido incorporadas al PDF-4+ para aumentar la capacidad de realizar análisis cuantitativos por cualquiera de los tres métodos: Análisis de Rietveld, Relación de Intensidades de Referencia (RIR) o Análisis del Patrón Completo. (comprar)

El PDF-4/Minerales es un subconjunto del PDF-4+, que incluye los nuevos aspectos de interés incorporados al PDF-4+. Esta es la base de datos de minerales y materiales relacionados más grande y más completa a nivel mundial. Los materiales relacionados incluyen materiales sintéticos, gemas y especímenes que fueron tratados en condiciones diferentes a las normales de temperatura y presión. (comprar)

PDF-4/Orgánicos está diseñado para identificar materiales orgánicos y organometálicos. Además de 515,458 entradas orgánicas, también contiene varios miles de materiales inorgánicos y excipientes farmacéuticos para ayudar en el análisis e identificación de formulaciones farmacéuticas. (comprar)

Todas las bases de datos del ICDD son diseñadas para facilitar la rápida identificación de materiales. El diseño de la base de datos incluye indexados especializados para la búsqueda rápida, con búsquedas basadas en el conocimiento químico y estructural. Existen varias características que fueron añadidas por los desarrolladores de software para facilitar la transferencia de datos entre el PDF y el software de análisis de difracción más poderosos del mundo.

ASPECTOS DESTACADOS DE OTROS PRODUCTOS DEL ICDD
ASPECTOS DESTACADOS DE LIBROS DE DATOS Y MANUALES DE BÚSQUEDA/INDEXADOS
El Powder Diffraction File también está disponible en formato de libro. Todos los libros (conjuntos) contienen la producción anual de patrones experimentales de ICDD. El libro y los índices están pensados para bibliotecas y pequeños laboratorios que no tienen acceso a sistemas automatizados.

Los índices impresos y los manuales de ICDD permiten realizar búsquedas e identificar frases incluidas en el formato de libro de datos del PDF. Los índices alfabéticos y el manual de búsqueda Hanawalt se pueden usar para buscar fases inorgánicas experimentales. El manual de fases orgánicas y organometálicas abarca fases experimentales organizadas por los cuatro índices habituales. Estos tres manuales de búsqueda básicos organizan los datos experimentales para facilitar la búsqueda e identificación de fases. Los índices alfabéticos organizan fases inorgánicas en función del nombre del producto químico y fragmentos de los nombres de los productos químicos. El manual de búsqueda Hanawalt organiza fases inorgánicas utilizando las tres líneas más potentes. Los manuales de búsqueda de fases orgánicas y metalorgánicas utilizan todos los métodos anteriores. La versión electrónica de los tres manuales de búsqueda es nuestro programa de software mejorado, SIeve.

PUNTOS DESTACADOS DE LAS BASES DE DATOS ESPECIALES 
El Dow Polymer Collection es una publicación impresa que contiene más de 150 patrones de polímeros, reproducidos en forma de difractogramas, registrados en los laboratorios de investigación de la compañía Dow Chemical.

DXC
La Denver X-ray Conference comenzó en 1951, en la Universidad de Denver, como un simposio de un día sobre el uso de rayos-X y su impacto en la investigación moderna. En 1998, el ICDD asumió la responsabilidad total y el patrocinio de la Conferencia. Esta conferencia anual reúne a más de 500 expositores, asistentes y exhibidores. Se exponen unas 200 presentaciones técnicas cada año.
El DXC proporciona una combinación única de sesiones y talleres enfocados en el entrenamiento, educación y aplicaciones. Junto al programa técnico se desarrolla una exhibición de equipos de rayos-X y de compañías de servicios, donde los vendedores exhiben y demuestran sus nuevos productos.

Oficialmente llamada la Annual Conference on Applications of X-ray Analysis, es mejor conocida como la Denver X-ray Conference (DXC), es uno de los foros científicos mas importantes del mundo en el área de análisis por rayos-X de materiales. La conferencia reúne a científicos, ingenieros y tecnólogos provenientes de diferentes partes del mundo para discutir las nuevas y más modernas técnicas y los desarrollos futuros en el análisis con rayos-X. De hecho, el DXC no sólo proporciona un lugar para tales discusiones, sino también ha estimulado y consolidado muchos de los progresos principales en estos campos en el transcurso de los años.

ADVANCES IN X-RAY ANALYSIS
El ICDD publica las memorias de la Denver X-ray Conference (DXC) en CD-ROM, a través de la serie Advances in X-ray Analysis (AXA). Los Volúmenes 1-39 están contenidos en un único CD, el de cada año subsiguiente está contenido en un CD separado. Cada CD-ROM contiene la colección de manuscritos correspondiente al año de edición junto a una tabla de contenidos general.

La recopilación del AXA incluye 60 volúmenes. Los volúmenes 1-39, contienen las memorias desde 1957 hasta 1995, disponibles en un único CD. La recopilación total contiene 3.211 artículos de expertos a nivel mundial relativos al desarrollo de la XRD y la XRF y sobre aplicaciones de análisis por rayos-X. Tiene la capacidad de buscar dentro de la recopilación total por tema, título o autor. Esta colección resulta invalorable para los médicos del área.

El ICDD se complace en poner a disposición el acceso a volúmenes seleccionados del Advances in X-ray Analysis-Proceeding of the Denver X-ray Conference en formato PDF de Adobe Acrobat. Se puede hacer búsqueda por título o palabras claves, incluyendo el nombre del autor. Los resultados indican el título, autor y tamaño del archivo.

ASPECTOS DESTACADOS DE LA REVISTA Powder Diffraction (PDJ)
Powder Diffraction (PDJ), la revista internacional del ICDD, se publica trimestralmente más un número anual sobre un tema especial en Cambridge University Press. La PDJ es una revista de caracterización de materiales utilizando rayos X, métodos de análisis de dispersión de electrones y neutrones. La revista recibe manuscritos que describen técnicas prácticas relacionadas con una amplia gama de aplicaciones, desde análisis de materiales a crecimiento epitaxial de películas finas y a los avances más actuales en software. Aunque se hace énfasis en la práctica, no se excluye la teoría, especialmente cuando su enfoque se centra en entender menor la técnica.

En colaboración con el Denver X-ray Conference Organizing Committee, el ICDD proporciona una copia de la edición del año anterior de Advances in X-ray Analysis (AXA) a suscriptores institucionales a la versión impresa y en línea de la PDJ. Esto logra duplicar de forma eficaz el número de artículos disponibles cada año para los suscriptores de PDJ y aumenta de forma significativa la circulación para los autores en Advances in X-ray AnalysisPowder Diffraction también publica números complementarios para procedimientos de reuniones internacionales, incluida la European Powder Diffraction Conference (EPDIC), la Chinese National Conference on XRD y la reunión de la Australian X-ray Analytical Association (AXAA).

PDF-2 y Software de Apoyo

PDF-2 – Purchase
El PDF-2 del 2018 del Powder Diffraction File contiene 298.258 entradas de la colección de datos experimentales en polco de ICDD, así como datos recopilados, editados y estandarizados de las bases de datos NIST y FIZ. PDF-2 está diseñado para análisis de materiales inorgánicos utilizando difractómetros automatizados. El PDF-2 del 2018 exhibe capacidades amigables, incluido nuestro software de búsqueda de datos integrados. Este software proporciona más capacidades de visualización, búsqueda y filtrado de datos utilizando 53 campos de visualización y 68 búsquedas. Cada entrada contiene una tabla de espaciamientos interplanares e intensidades relativas, y la mayoría también contiene índices de Miller. También se incluye información adicional como fórmula química, nombre de compuestos, nombre de minerales, fórmula estructural, sistema cristalino, datos físicos, parámetros experimentales y referencias si ésta es conocida. Cada entrada pasa por una revisión editorial rigurosa y ha sido indexada para búsqueda por subcarpetas.

El PDF-2 incorpora el histórico Powder Diffraction File en CD. Esta base de datos está integrada a los sistemas de software de los fabricantes de equipos de difracción de rayos-X más importantes. Junto con el software de análisis de datos de los OEM, el PDF ofrece a científicos capacidades rápidas de análisis basadas en PC que les permite la identificación de materiales en los mejores laboratorios alrededor del mundo. La licencia de PDF-2 tiene una validez de 5 años.

Rasgos importantes:

  • 298.258 entradas (264.876 inorgánicas y 42.479 orgánicas)
  • 7.139 entradas nuevas
  • 116.613 entradas experimentales
  • 170.778 entradas calculadas a partir de datos del ICSD
  • 10.067 entradas calculadas a partir de datos del NIST

 

El PDF-2 del 2018 está contenido en un DVD or USB compatible con la plataforma PC. El PDF-2 debe guardarse en su disco duro. Contacte su proveedor de software para verificar si el suyo es compatible al momento de comprar o actualizar el PDF-2 del 2018. El software de visualización con capacidades de búsqueda/superposición está disponible a través de distribuidores y fabricantes de equipos autorizados por el ICDD.

Los precios de las licencias multianuales y por sitios están disponibles.

SOFTWARE DE APOYO DEL PDF-2
El software de búsqueda de datos del Centro Internacional para Datos de Difracción (ICDD) está integrado a todos los productos PDF. Este software proporciona más capacidades de visualización, búsqueda y filtro de datos para el formato PDF-2 del Powder Diffraction File (archivo de difracción del polvo). Los clientes pueden beneficiarse de nuestras opciones de búsqueda de datos utilizando 53 campos de visualización y 68 búsquedas. Los criterios de búsqueda de datos también se pueden usar para centrar los resultados de SIeve.

Capacidades

  • Posibilidades de formas de búsqueda multifuncionales.
  • Los datos mostrados se pueden copiar en la papelera del sistema operativo.
  • En la mayoría de las búsquedas numéricas están disponibles las Desviaciones Estimadas Estándar (ESD).
  • Los archivos de ayudas están integrados con las entradas del PDF.

Visualización de las entradas del PDF

  • Visualización de patrones ampliable.
  • La tabla de espaciamientos ahora se puede desbloquear.
  • Las 3 líneas más intensas se señalan en negritas.
  • Mejoras en la exportación XML.
  • Opciones de reporte: largo, corto, o con omisión de espacios sin datos.
  • Vista simultánea de 2 tanto de rendija fija como de rendija variable.
  • Enlaces DOI activos en la página de referencia.

Capacidades de Resultados

  • Todas las columnas de la tabla de resultados se pueden guardar, mover y redimensionar.
  • La mayoría de columnas de la tabla de resultados se pueden mostrar de forma gráfica.
  • Cálculos de valores promedios y desviaciones estándar (ESD) para valores numéricos mostrados.
  • Parámetros de búsqueda se reflejan en la ventana de búsqueda.
  • Reorganización del contenido de las columnas mediante el botón medio del ratón.
  • Separación de los datos seleccionados con el ratón en una ventana distinta.
  • Habilidad para añadir cualquier campo directamente a los resultados a partir de las opciones del menú.
  • Flexibilidad para ordenar las fórmulas entre los resultados de las búsquedas.
  • Posibilidad de abrir múltiples tarjetas PDF al mismo tiempo.

Características de la Búsqueda

  • La búsqueda por autor y celda cristalina puede complementar la búsqueda de celdas reducidas. Se pueden buscar parámetros de celda y volúmenes dentro de rangos específicos o con márgenes de error (ESD).
  • La búsqueda en la tabla periódica incluye “AndOrOnly, Just” y no operadores booleanos.
  • Búsqueda opcional en la tabla periódica de tipo “Yes/No/Maybe”.
  • Búsqueda en cualquier combinación de L1L2 y L3 en “Long Lines”.
  • Búsqueda en cualquier combinación de d1d2 y d3 en “Strong Lines”.
  • Búsqueda en cualquier combinación de “Dmeans”, “Dcalc” y “Dstruc” en densidades.

SIeve – ¡Nuevo para 2018! ¡SIeve está incluido gratis en PDF-2!
SIeve, el software de búsqueda de índices del ICDD, posibilita la búsqueda e identificación rápida de materiales utilizando las búsquedas de HanawaltFink y Long-8 altamente automatizadas. SIeve utiliza el poder computacional dinámico de los modernos PC para realizar con mayor rapidez búsquedas permutadas en cientos de miles de entradas de datos. Esto hace posible el uso de los algoritmos Fink y Long-8 que son imprácticos con material impreso, debido a su enorme tamaño. Otra característica es la rotación automática de las 8 líneas más fuertes (Hanawalt) o las 8 líneas más largas entre las más fuertes (Fink) o las 8 líneas más largas (Long 8) para buscar superposiciones que exhiban los mejores “Goodness of Match”(GOM). Hemos implementado una figura de mérito “Pattern GOM” que muestra una comparación, como los manuales impresos, donde todas las líneas del patrón desconocido deben superponerse con las líneas del o los patrones de referencia. La visualización de SIeve permite una comparación adicional GOM estándar y el GOM del patrón.

El SIeve trabaja tanto con entradas de pares de datos d/I o archivos electrónicos que contienen datos d/I o 2-theta/I. Una opción flexible de importación de texto puede leer una gran variedad de archivos de entrada, cualquier cantidad de pares d/I puede ser importada. SIeve está vinculado a las búsquedas Globales y a las Preferencias de Búsqueda de nuestro software para visualización integrado. Esto significa que un usuario puede definir un filtro de entradas en SIeve basándose en cualquiera de los 45 métodos de búsqueda o combinaciones de ellas. Los resultados del SIeve también pueden ser integrados al criterio de búsqueda de nuestro software de visualización.

  • Las fases se muestran en tablas con opciones de ordenamiento.
  • Se destacan las fases cuyas líneas muestran superposiciones.
  • Distintos colores distinguen los espaciamientos que caen entre las opciones posibles.
  • Las sesiones, incluyendo ejemplos, se pueden guardar en archivos tipo XML.
  • Se puede agregar unidades en los campos de visualización respectivos: angstroms, grados.
  • No hay límites en el número de líneas experimentales.
  • No hay límites en el número de fases.
  • Mejores algoritmos (rapidez y funcionalidad).
  • GOM del Patrón.
  • Asignación de I/Ic a superposiciones y a fases.
  • Opciones avanzadas de importación: propiedades para guardar.

PDF-4

Línea de Productos PDF-4
Las bases de datos de la línea de productos PDF-4 son de uso limitado por tiempo que requieren renovación anual de la licencia. Estas bases de datos se han desarrollado en colaboración con bases de datos históricas pertenecientes a otras organizaciones. Sólo el PDF-4+ y el PDF-4/Minerales contienen datos calculados y estandarizados del Linus Pauling File (LPF). Solo el PDF-4/Orgánicos contiene datos calculados y estandarizados por el Cambrigde Structural Database (CSD).
Todos los productos PDF-4 incluyen nuestro software de búsqueda de datos integrado, para ofrecer un ahorro aún mayor. Este software proporciona más capacidades de visualización, búsqueda y filtrado de datos utilizando 72 métodos de búsqueda distintos para filtrar el contenido de la base de datos con visualización personalizada de una selección de 125 campos de datos separados. Utilizando una interfaz interactiva de JavaTM, se pueden combinar distintos métodos de búsqueda y selecciones de campos para producir una cantidad casi ilimitada de opciones de búsqueda de datos. La tecnología de manejo de difractogramas digitales completos y la documentación de las ayudas en líneas, indexadas, y de contenidos incorporados en dicha documentación, forma parte integral de los nuevos productos PDF-4. Usted necesitará contactar el proveedor del software de búsqueda/superposición que utiliza para asegurar la compatibilidad con los productos PDF-4.

RASGOS IMPORTANTES DEL PDF-4+ – Purchase
El PDF-4+ es una base de datos avanzada que combina las fuentes más grandes de datos de difracción de cristales y polvos de materiales inorgánicos a nivel mundial, en una sola base de datos. El resultado es una colección completa de materiales inorgánicos, producidos en un formato estandarizado que puede ser consultado rápidamente para identificar materiales.

Esta base de datos contiene numerosas características novedosas tales como, patrones de difracción digitalizados, gráficos moleculares y parámetros atómicos. Muchas de las características han sido incorporadas en el PDF-4+ para aumentar la capacidad de realizar análisis cuantitativos por cualquiera de los tres métodos: Análisis de Rietveld, Relación de Intensidades de Referencia (RIR) o Análisis del Patrón Completo. El PDF-4+ 2018 contiene 398.726 entradas, mientras que el PDF-4/Minerales 2018 contiene 45.497 entradas.

El PDF-4+ está diseñado para soportar análisis cuantitativos automáticos utilizando los datos de referencia claves requeridos para estos análisis. Todos los patrones, independientemente del tipo o fuente de los datos, pueden ser vistos en forma de patrón digitalizado, facilitando la capacidad de realizar un análisis completo del patrón. Se utilizan tres algoritmos diferentes para calcular el difractograma que se muestra, dependiendo de la fuente de los datos y la información requerida. El PDF-4+ automáticamente escoge el algoritmo apropiado para tal propósito y luego permite al usuario cambiar las condiciones dependiendo de las condiciones propias del usuario. El usuario tiene la posibilidad de definir los diversos parámetros instrumentales, las configuraciones ópticas y los parámetros experimentales, incluyendo tamaño de dominio cristalino en dichos cálculos.
El PDF-4+ incluye 300,078 entradas con Relaciones de Intensidades de Referencia (I/Ic) que han sido, o bien calculados a través de estudios de monocristal o bien obtenidas experimentalmente. En un análisis RIR, todas las fases necesitan ser identificadas y cada una de ellas debe tener su valor RIR. La gran cantidad de entradas con valores RIR posibilita el uso frecuente de este método para análisis cuantitativo.

Las coordenadas atómicas que se encuentran en 295.309 entradas, provenientes del LPFICDD y NIST, permiten la realización de varios cálculos basados en la física de la dispersión y la difracción. Las técnicas de Rietveld pueden utilizar los parámetros atómicos para análisis cuantitativos y refinamiento estructural. La base de datos PDF-4+ contiene varias tablas de factores de dispersión, de manera que se pueden calcular patrones de difracción de electrones, difracción de rayos-X a longitudes de onda variables y difracción de neutrones, a partir de primeros principios.

El PDF-4+ contiene mas datos y mayor variedad de datos permitiendo la identificación rápida de materiales. Está diseñada para soportar análisis cuantitativos automáticos al proveer los datos de referencia claves requeridos para estos análisis. Cada patrón, independientemente del tipo o fuente, puede ser mostrado como un patrón digitalizado, facilitando la realización de análisis total de patrones. Hemos seguido fortaleciendo el proceso de identificación y cuantificación de materiales añadiendo más datos con I/Ic y con coordenadas atómicas. Las interfaces Java™ han mejorado la velocidad, conveniencia y la disponibilidad de varias opciones de nuevas disposiciones para mostrar patrones digitalizados y para el manejo y la extracción de datos.

Véase Software de Apoyo del PDF-4

RASGOS IMPORTANTES DEL PDF-4/ORGÁNICOS – Purchase
El PDF-4/Orgánicos 2018, la base de datos de difracción de rayos-X de polvos de compuestos orgánicos más grande del mundo, contiene 526.126 entradas Este producto tiene todas las capacidades de manejo y extracción de datos de la familia de productos PDF-4. Esta base de datos es un producto orientado hacia la obtención de resultados que combinan los patrones calculados de los componentes activos de fármacos contenidos en el Cambridge Structural Database (CSD), con polímeros (incluyendo almidones y celulosas), excipientes y fármacos del Powder Diffraction File del ICDD.

Esta base de datos está diseñada para facilitar la identificación rápida de materiales de interés para las industrias farmacéuticas y de productos químicos especiales. Su diseño permite un acoplamiento fácil con difractómetros y sistemas de análisis de datos creados por los más importantes fabricantes de equipos de rayos-X y de software de análisis a nivel mundial. La base de datos es útil para científicos trabajando en productos de consumo, catálisis, ciencias forenses, laboratorios analíticos, descubrimiento y producción de medicamentos y drogas.

RASGOS IMPORTANTES DEL PDF-4/MINERALES – Purchase
Esta base de datos contiene 45.497 entradas de minerales y materiales relacionados, y cubre más del 97 % de todas las especies minerales clasificadas, definidas como tal por el Fleischer’s Glossary of Minerals Species y la International Mineralogical Association. Además de estas especies de minerales clasificados, la base de datos contiene materiales por clasificar, minerales sintetizados y variaciones de capas intermedias y soluciones sólidas. Muchos minerales comunes han sido caracterizados a distintas temperaturas y presiones. En conclusión, el resultado es una amplia base de datos que contiene datos de 4 fuentes diferentes.

Los datos son revisados anualmente por un grupo de mineralogistas. Estos expertos asignan los grupos y supergrupos de los minerales, las clasificaciones y los prototipos de las variaciones estructurales para facilitarles a los usuarios el proceso de análisis e identificación. Aproximadamente 1.000 entradas de minerales han sido añadidas de los bancos de datos LPFICDD y NIST. Estas entradas contienen las coordenadas atómicas, la simulación de los patrones, y los gráficos como está descrito en los productos PDF-4+.

PDF-4 y Software de Apoyo

RASGOS IMPORTANTES DEL SOFTWARE DE SOPORTE DEL PDF-4
El software de búsqueda de datos del International Centre for Diffraction Data (ICDD) está integrado a todos los productos PDF. Este software proporciona más capacidades de visualización, búsqueda y filtro de datos para el formato PDF-4 del Powder Diffraction File (archivo de difracción del polvo). El programa contiene 72 métodos diferentes de búsqueda para filtrar el contenido de la base de datos con disposición personalizada para mostrar una selección de hasta 125 campos separados de datos. Utilizando la interfase búsqueda y selección de Java™, se pueden combinar varios métodos de búsqueda y selección de campos para producir una escogencia casi ilimitada de opciones de extracción de datos. Los criterios de búsqueda de nuestro software de búsqueda de datos también se pueden utilizar para centrar los resultados de la búsqueda de SIeve+, indexando los subconjuntos de entradas del PDF definidos por el usuario.

Capacidades:

  • Posibilidades de formas de búsqueda multifuncionales.
  • Se puede ajustar el tamaño de los componentes internos de las ventanas.
  • Los espacios de búsqueda se pueden bloquear y desbloquear.
  • Los datos mostrados se pueden copiar en la papelera del sistema operativo.
  • En la mayoría de las búsquedas numéricas están disponibles las Desviaciones Estimadas

Estándar (ESD).

  • Los archivos de ayudas están integrados con las entradas del PDF.
  • Patrones de difracción de electrón retrodispersivos.
  • Patrones de difracción de electrones.
  • Visualización de Distancias y ángulos de enlace.
  • Caja de herramientas de cálculos cristalográficos.
  • Enlaces de series de temperatura.
  • Visualización de estructura de cristal en 3D utilizando gráficos Jmol.

Visualización de las entradas del PDF

  • Simulación de patrones de polvo para rayos X, electrones o neutrones de cualquier longitud de onda.
  • Elección de perfiles de patrones simulados de polvo.
  • Vista de hasta 3 tablas de espaciamientos interplanares e intensidades con opciones de rendija fija, variable e intensidades integradas.
  • Se pueden desligar las tablas y moverlas para compararlas, ya sea lado a lado o incluidas una dentro de otra.
  • Las 3 líneas más intensas se señalan en negritas.
  • Adición de campos para descripciones de estructuras modulares.
  • Exportación de archivos CIF disponible para introducción en Rietveld y otros softwares de análisis.
  • Los datos cristalográficos se muestran en la sección de “Structure”, en la entrada del PDF.
  • Enlaces DOI activos en página de referencia.
  • Exportación XML mejorada.

Capacidades en la forma de los resultados

  • La mayoría de las columnas de la tabla de resultados se pueden mostrar de forma gráfica.
  • Añadir directamente una selección de cualquiera de las 125 áreas de las opciones del menú de preferencias, organizándolas, moviéndolas y reajustándolas a conveniencia.
  • Las columnas de todas las tablas de resultados se pueden organizar, mover y redimensionar con el ratón.
  • Abrir simultáneamente múltiples tarjetas del PDF con opciones de graficación múltiples de patrones digitales para grupos previamente seleccionados.
  • Cálculos de valores promedios y desviaciones estándar (ESD) para valores numéricos mostrados.
  • Los parámetros de búsqueda se muestran en la sección de resultados.
  • Reorganización del contenido de las columnas mediante el botón medio del ratón.
  • Separación de los datos seleccionados con el ratón en una ventana distinta.
  • Habilidad para añadir cualquier campo directamente a los resultados a partir de las opciones de menú de preferencia.
  • Flexibilidad para ordenar las fórmulas entre los resultados de las búsquedas.
  • Opciones añadidas en reportes de búsqueda en el menú de preferencias: título, campos de escala para ajuste de página.

Características de búsqueda

  • La búsqueda por autor y celda cristalina puede complementar la búsqueda de celdas reducidas. Se pueden buscar parámetros de celda y volúmenes dentro de rangos específicos o con márgenes de error (ESD).
  • Rápida conversión entre datos reportados por el autor y datos de celdas cristalinas o reducidas.
  • El operador “Not” está disponible en todo tipo de búsqueda.
  • Búsqueda en cualquier combinación de L1L2 y L3 en “Long Lines”.
  • Búsqueda en cualquier combinación de d1d2 y d3 en “Strong Lines”.
  • Búsqueda en cualquier combinación de “Dmeans”, “Dcalc” y “Dstruc” en densidades.
  • Propiedades permitidas por simetría cristalina. (i.e. Piezoelectric).
  • Las búsquedas en la tabla periódica incluyen los operadores booleanos “AndOrOnlyJust” y “Not”.
  • Búsqueda opcional en la tabla periódica “AndOrMaybe”.
  • Propiedades permitidas de simetría de cristales (p. ej., Piezoeléctrica).

Preferencias de búsqueda

  • Se pueden mostrar campos para parámetros cristalinos, autores y celdas reducidas, además de volúmenes de celda unidad.
  • Preferencias de búsqueda— opción rápida de grupos existentes en campos de visualización.

Capacidades gráficas

  • Añadir y borrar patrones rápidamente con la posibilidad de ajustar cada patrón individualmente para funciones de perfiles instrumentales y de espécimen determinadas.
  • Funciones de perfil asociadas con tamaño de partículas.
  • Opciones de geometría Debye-Scherrer/Bragg-Brentano.
  • Opciones para el eje x: 2θ, 1/d, d, Q.
  • Los gráficos se pueden guardar alargados.
  • Capacidades avanzadas de exportación:

– Selección de varias formas para guardar
– Corrección en 2-theta
– Selección de la longitud de onda
– Fondo de Pantalla
– Propiedades de aumento de graficación
– Cambio del color de la línea
– Escala de intensidad del pico más alto

SIeve+ 2018 – Purchase
SIeve+ posibilita una búsqueda e identificación rápida de materiales utilizando las búsquedas de HanawaltFink y Long-8 altamente automatizadas. SIeve+ se beneficia del poder computacional dinámico de los modernos PCs para realizar con mayor rapidez búsquedas permutadas en cientos de miles entradas de datos. Esto hace posible el uso de los algoritmos Fink y Long-8 que son imprácticos con material impreso, debido a su gran tamaño por las permutaciones. Una nueva característica para este lanzamiento es la rotación automática de las 8 líneas más fuertes (Hanawalt) o las 8 líneas más largas entre las más fuertes (Fink) o las 8 líneas más largas (Long 8) para buscar superposiciones que exhiban los mejores “Goodness of Match” (GOM). Históricamente, estas operaciones de rotaciones fueron anticipadas e integradas en los protocolos de los métodos de índices y de búsqueda de los manuales impresos, estos pueden activarse y desactivarse en SIeve+ utilizando la función de Preferencias. El esquema de búsqueda del manual impreso siempre ofrece una prueba de chequeo para la búsqueda, básicamente todas las líneas del patrón desconocido deben coincidir con todas las líneas del patrón de referencia. Para precisar esta comparación, hemos implementado una figura de mérito “Pattern GOM” que valora esta comparación. SIeve+ permite ver la comparación entre el GOM estándar y el GOM del patrón. Las funciones de la graficación de los datos digitalizados permiten comparaciones entre los datos experimentales y resultados de la búsqueda de SIeve+.
El SIeve+ trabaja tanto con entradas de pares de datos d/I o archivos electrónicos que contienen datos d/I o 2-theta/I. Una opción flexible de importación de texto puede leer una gran variedad de archivos de entrada, se puede importar cualquier cantidad de pares d/ISIeve+ está vinculado a las búsquedas Globales y a las Preferencias de Búsqueda de nuestro software para visualización integrado. Esto significa que un usuario puede definir un filtro de entradas en SIeve+ basándose en cualquiera de los 72 métodos de búsqueda o combinaciones de ellas. Los resultados del SIeve+ también pueden ser integrados al criterio de búsqueda de nuestro software de visualización.

Características Adicionales

  • Las fases se muestran en tablas con opciones de ordenamiento.
  • Se destacan las fases cuyas líneas muestran superposiciones.
  • Distintos colores distinguen los espaciamientos que caen entre las opciones posibles.
  • Las sesiones, incluyendo ejemplos, se pueden guardar en archivos tipo XML.
  • Se puede agregar unidades en los campos de visualización respectivos: angstroms, grados.
  • No hay límites en el número de líneas experimentales.
  • No hay límites en el número de fases.
  • Mejores algoritmos (rapidez y funcionalidad).
  • GOM del Patrón.
  • Asignación de I/Ic a las superposiciones y a las fases.
  • Opciones avanzadas de importación: propiedades para guardar.
  • Filtro “Second Pass” elimina los resultados faltos positivos.
  • La búsqueda de difracción de electrones optimiza el algoritmo de búsqueda de datos de difracción de electrones.

Clínicas y Educación

HISTORIA
Las Clínicas de rayos-X del ICDD son una continuación de las Clínicas SUNY que se realizaron en la State University of New York, en Albany, durante más de 25 años. En 1990, el International Centre for Diffraction Data (ICDD) asumió la responsabilidad de estas clínicas. El ICDD es una organización científica sin fines de lucro que publica el Powder Diffraction File (PDF) y la revista especializada Powder Diffraction. El ICDD está comprometido en promover las aplicaciones de los métodos de caracterización de materiales en ciencia y tecnología, promocionando programas educativos como las Clínicas del ICDD.

¿POR QUÉ ESCOGER LAS CLÍNICAS DEL ICDD?
El propósito de las clínicas de XRF y XRD es combinar el conocimiento teórico y las aplicaciones prácticas en espectrometría de fluorescencia de rayos-X y difracción de rayos-X de polvos. Cada clínica es un curso completo de una semana sobre conocimientos prácticos en el área. Los instructores de las clínicas tienen una gran experiencia en el área y son especialmente seleccionados tanto del sector académico como industrial para tener lo mejor en teoría y práctica. El énfasis en aplicaciones prácticas, experiencias tangibles e instrucción personal intensa marca la diferencia entre las clínicas del ICDD y otros cursos. Cada clínica utiliza un equipo de instructores que representan un amplio rango de experiencia dispuesto a satisfacer sus necesidades de entrenamiento.

¿QUIÉNES PUEDEN ASISTIR?

  • Personal de laboratorios que deseen mejorar sus resultados.
  • El sector académico que esté actualmente desarrolla un programa o currículo en XRF o XRD.
  • Estudiantes de postgrado que deseen adquirir conocimientos en aplicaciones teóricas y prácticas de XRF o XRD.
  • Profesionales en el área de XRF y XRD que busquen pulir sus habilidades de análisis.
  • Aquellos que deseen compartir experiencias, conocimientos e ideas con colegas que trabajan en el área de XRF o XRD.
  • Aquellos que tengan preguntas y deseen discutirlas con nuestro equipo de expertos.

UBICACIÓN
Las Clínicas de rayos-X del ICDD se realizan anualmente en la sede principal del ICDD en Newtown SquarePA. Las clínicas de XRF generalmente se realizan a finales de Abril o principios de Mayo, mientras que las Clínicas de XRD se realizan a principios de Junio. Para mayor información acerca de las Clínicas del presente año, por favor visite el portal ICDD Clinic home page.

TALLERES
A petición de los asistentes de nuestros últimos eventos, el ICDD ha añadido a sus ofertas educativas anuales dos nuevos talleres especializados de tres días de duración. Estos talleres se realizan, en el otoño, en la sede principal del ICDD: El Refinamiento Rietveld e Indexado y un taller de XRF.

Por favor vea el portal http://www.icdd.com/education/workshops.htm para información actualizada.

OPORTUNIDADES EDUCATIVAS EN SU REGIÓN
Además de las Clínicas de rayos-X, el ICDD ofrece oportunidades educativas alrededor del mundo. Regularmente se realizan talleres enfocados en el desarrollo y uso del Powder Diffraction File, identificación de fases, análisis cuantitativos y extracción de datos, a menudo en conjunto con importantes eventos internacionales relacionados con el análisis de rayos-X. Por ejemplo, el ICDD generalmente ofrece talleres en estos grandes eventos:

  • EPDICEuropean Powder Diffraction Conference (Europe)
  • SARXLatin American Seminary of Analysis by X-ray Techniques (Latin America)
  • BCABritish Crystallographic Association – Spring Meeting (United Kingdom)
  • The National Crystal Chemical Conference (Russia)
  • The Chinese National Conference on X-ray Diffraction (China)
  • AXAAAustralian X-ray Analytical Association (Australia)
  • International Conference on Crystal Chemistry of Intermetallic Compounds (Ukraine)
  • DXC: Denver X-ray Conference (USA)
  • International Workshop “High Temperature Superconductors and Novel Inorganic Materials Engineering” (Russia)
  • PPXRDPharmaceutical Powder X-ray Diffraction Symposium (Europe/Asia/USA)

Para científicos interesados en principios farmacéuticos, el ICDD patrocina un simposium anual titulado “Pharmaceutical Powder X-ray Diffraction Symposium” (PPXRD). Este evento rota su ubicación entre Europa, Asia y Estados Unidos. El programa de simposium incluye un taller opcional de un día, seguido de dos días y medio de sesiones técnicas. Entre los temas se encuentran: Técnicas Estructurales de Difracción de rayos-X de Polvos, (Adquisición y uso de Datos de XRPD, Indexado, Determinación Estructural y Refinamiento Rietveld), Difracción de Polvo utilizando Fuentes de Sincrotrón para Problemas Farmacéuticos, Técnicas Complementarias (DSCTGA, Microscopía de zona caliente, FTIRRamanNMRSEMAFM, Microscopía Optica, XRFSAXS y SANS), Formulación Farmacéutica, Desarrollo de Productos, Liberación de Fármacos y Detección de Polimorfos y Sales, Problemas de Regulaciones y Patentes, Fronteras para la XRD en Investigación y Desarrollo de Fármacos.

Por favor visite el Portal del PPXRD para información actualizada.

Apoyo Económico

Para asegurar la alta calidad de los datos de sus bases de datos y para tener una fuente de datos de nuevos e importantes materiales, el ICDD ofrece un programa de apoyo económico (Grant-in-Aid). Este programa motiva a científicos que trabajan con nuevos materiales a obtener datos de difracción de alta calidad y a enviarlos al ICDD para ser incluidos en el Powder Diffraction File y en otras publicaciones. Este programa Grant-in-Aid (GiA) está disponible para todos los trabajadores cualificados en el campo de difracción de rayos-X. Estas subvenciones se asignan sobre bases competitivas. Un comité de evaluación, compuesto por miembros del ICDD, es el encargado de revisar las propuestas y personal del ICDD proporciona asistencia técnica y administra el programa.
Uno de los objetivos principales del Programa Grant-in-Aid del ICDD es proporcionar datos de difracción de alta calidad de nuevos materiales al PDF que sean de importancia tanto industrial como referencial. El éxito de este programa se evidencia en el continuo incremento porcentual en el tiempo, de entradas de alta calidad (“estrellas”) y en el nivel de experiencia de los subvencionados. Más del 85 % de los patrones publicados correspondientes a este programa son patrones de calidad “estrella”. A través de este programa, se seleccionan materiales semiconductores, electrónicos, farmacéuticos y catalizadores para ser añadidos al PDF. Varios grupos de trabajo de los subcomités técnicos del ICDD recomiendan materiales que debieran ser estudiados. Las recomendaciones de los usuarios del PDF también son bienvenidas. Varios de los materiales presentes en el PDF son el resultado directo de sugerencias presentas por miembros y usuarios. El Editor Jefe recopila la lista de posibles nuevos materiales para su estudio, sugeridos por los grupos de trabajo. Los subvencionados pueden proponer una lista de materiales para estudio o recibir posibles candidatos altamente prioritarios sugeridos por el Editor Jefe.

El programa GiA es internacional. La duración de la subvención es de 12 meses con 2 ciclos por año. El primer ciclo empieza el 1 de abril y el segundo ciclo el 1 de octubre.

Procesos Electrónicos de Evaluación del GiA
Para la evaluación de las propuestas se ha desarrollado e implementado un proceso automático vía Internet. Esto permite la entrega y revisión de las propuestas a través del Internet. Una ventaja de este proceso es que los materiales propuestos pueden ser pre-evaluados, chequeándolos en una lista electrónica de cientos de materiales publicados recientemente en el PDF o que están siendo procesados en un momento dado por el sistema editorial. Para evitar la duplicación se motiva a los proponentes a revisar dichas listas antes de enviar su propuesta. Este enlace es actualizado por el Departamento de Ciencia del ICDD dos veces por año, en diciembre y junio, sincronizándolo con los dos ciclos del programa.

Otra de las ventajas de ese sistema es que el Comité de Evaluación puede revisar y discutir las propuestas a través de una combinación entre correspondencia de Internet y teleconferencias. El comité de revisión puede consultar en línea las propuestas los CV de los principales investigadores, y el registro de las publicaciones anteriores. Esto permite que el comité esté formado por miembros expertos internacionales, de diferentes países y continentes del mundo. Las revisiones se realizan a lo largo de un periodo de varias semanas.

Las reuniones de revisión han evolucionado hacia una discusión a través de teleconferencia de revisión de resultados. La transformación de este proceso fue esencial para que el ICDD pudiera mantener el ritmo por el gran tamaño de la base de datos y para aprovechar la experiencia internacional en el proceso proponer y evaluar críticamente dichas propuestas.

Para mayor información sobre el GiA (Inglés)

Miembros

El International Centre for Diffraction Data (ICDD) es una organización científica sin ánimo de lucro dedicada a recopilar, editar, publicar y distribuir datos de difracción de polvos para la identificación de materiales cristalinos en la forma del Powder Diffraction File™. El ICDD existe para satisfacer las necesidades de la comunidad que realiza análisis de materiales. Los miembros activos del ICDD son aproximadamente unos 300 científicos de todas partes del mundo, entre los cuales la organización elige a los integrantes de su Junta de Directiva, de los comités y de los subcomités. Las funciones esenciales de los miembros son elegir la Junta y ofrecer asesoría. La actual Junta siente que es importante que recibamos la más amplia y profunda asesoría y que los miembros activos incrementen.

La Junta cree que el ser miembro no es un asunto meramente honorario y espera que los miembros contribuyan activamente con el ICDD, de alguna manera. En el pasado, esto ha incluido la asistencia a las reuniones. Avances en la comunicación electrónica, particularmente el rápido desarrollo del portal electrónico del ICDD, ahora hace posible ser un miembro activo sin la necesidad de la presencia física en Newtown Square, Pennsylvania.

Los miembros se reúnen anualmente, en Marzo, en la sede del ICDD, creando un foro para el intercambio de ideas e información, y para organizar, planificar y revisar las políticas y procedimientos con la organización del ICDD. El personal científico y administrativo asalariado es responsable de la producción de las diferentes bases de datos que oferta el ICDD.

La posibilidad de ser miembros del ICDD es abierta para profesionales involucrados en la caracterización de materiales. El procedimiento actual para la elección como miembro implica el envío de la siguiente información:

  1. Un resumen del Currículum vítae.
  2. Una carta de recomendación emitida por un miembro activo.
  3. Una lista de los subcomités técnicos en los cuales usted participará activamente.

Además, podrán solicitar su ingreso como estudiantes afiliados, estudiantes de pre-grado y post-grado. Las comunicaciones con los estudiantes afiliados serán por vía electrónica. El procedimiento para la elección de estudiantes afiliados implica el envío de la siguiente información:

  1. Un resumen del Currículum vítae, que incluya el campo de estudio.
  2. Una carta de recomendación emitida por un miembro activo o por su Representante Regional.
  3. Una lista de los subcomités técnicos en los cuales usted participará activamente.

Por favor envíe su información al Presidente del Comité de Miembros, Roman Shpanchenko (roman.shpa@samsung.com) o a la sede del ICDD con destino al Comité de Miembros, el cual le hará llegar la información a la Junta para su consideración. Igualmente, puede llenar la planilla en línea ubicada en la parte inferior de la página.

ICDD Headquarters 
c/o Membership Committee
12 Campus Blvd.
Newtown Square, PA 190731-3273
info@icdd.com

Para mayor información acerca de cómo llegar a ser miembro, por favor contáctenos en la dirección anterior.

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