PDF-4 und Support Software

Besonderheiten der PDF-4 SUPPORT SOFTWARE
Die Data-Mining-Software von ICDD ist in allen PDF-Produkten integriert. Diese Software bietet mehr Möglichkeiten für die Anzeige, Suche und Datenfilterung für das PDF-4-Format der Pulverdiffraktionsdatei (PDF). Das Programm beinhaltet 65 verschiedene Suchmethoden für die Datenfindung und erlaubt die Darstellung der Ergebnisse in einer selbst gewählten Ansicht aus 116 Datenfeldern. Durch die Verwendung einer auf Java™ basierenden Umgebung mit Maussteuerung ist es möglich, die verschiedenen Suchfunktionen und Feldauswahlen zu kombinieren und bietet so eine fast grenzenlose Anzahl von Möglichkeiten zur Datenbankauswertung. Die Suchkriterien in unserer Data-Mining-Software können auch für die Konzentration der Ergebnisse der SIeve+-Indexsuche auf die benutzerdefinierten Untermengen der PDF-Einträge angewandt werden.

Funktionen

  • Multifunktionssuchmaske
  • Daten in den Fenstern sind skalierbar
  • Suchtabs können entkoppelt werden
  • Angezeigte Daten können in die Zwischenablage kopiert werden
  • Eine Abschätzung der Standardabweichung ist für die meisten numerischen Suchen verfügbar
  • Hilfedaten sind in den PDF-Eintrag integriert
  • Rückstreuelektronen-Beugungsdiagramme (Electron Backscattering Pattern)
  • Elektronenbeugungsdiagramme
  • Darstellung der Bindungsabstände und Winkel
  • Toolbox für kristallografische Berechnungen
  • Links der Temperaturserien
  • Darstellung der Kristallstruktur in 3D mit Jmol-Grafik

Darstellung der PDF-Einträge

  • Diffraktogramm-Simulation für jede Röntgen-, Neutronen- und Elektronenwellenlänge
  • Wahl der simulierten Diffraktogrammprofile
  • Anzeige von bis zu 3 Tabellen mit d-Werten und Intensitäten mit den Wahlmöglichkeiten festgelegte Blende, veränderliche Blende und Integralintensitäten
  • Die Entkopplungsfunktion ermöglicht das Verschieben der Tabellen, um sie gestaffelt oder nebeneinander vergleichen zu können.
  • Die drei stärksten Linien sind fettgedruckt
  • Zusätzliche Felder für modulierte Strukturbeschreibungen
  • Export als CIF-Datei zum Einlesen in Rietveld- oder andere Analysesoftware
  • Kristallografische Daten werden in der Stukturkarteikarte der PDF-Karte gezeigt
  • Aktuelle DOI-Links auf der Referenzseite
  • Verbesserter XML-Export

Anordnungsmöglichkeiten der Ergebnisse

  • Die meisten Spalten in Ergebnistabellen können grafisch angezeigt werden
  • direktes Einfügen von beliebigen der 116 Datenfeldern vom Voreinstellungsmenü aus; sortieren, bewegen und in der Größe anpassen
  • Alle Spalten in Ergebnistabellen können mit der maus sortiert, bewegt und in der Größe verändert werden
  • Gleichzeitiges Öffnen mehrerer PDF-Karten mit der Möglichkeit, mehrere digitale Diffraktogramme aus selbst gewählten Gruppen anzuzeigen
  • Berechnung von arithmetischem Mittel, Median und Standardabweichung für angezeigte numerische Werte
  • Suchparameter werden auf dem Ergebnisblatt ebenfalls angezeigt
  • Klick mit mittlerer Maustaste auf Spaltenkopf führt Standardsortierung aus
  • Klick mit mittlerer Maustaste auf Zellen zeigt die Daten in einem separaten Fenster
  • Jedes Feld kann zu den Ergebnissen über die Optionen im Voreinstellungsmenü hinzugefügt werden
  • Flexible Anordnung der Formulare in den Suchresultaten
  • Optionen für Suchberichte wurden in das Voreinstellungsmenü hinzugefügt: auf Seitengröße skalieren, Anzeige nach Titel

Suchfunktionen

  • Autor und Elementarzellensuche erkennen auch die Suche nach der reduzierten Zelle. Parameter und Volumen der Elementarzelle können in festgelegten Grenzen gesucht werden
  • Sofortige Umwandlung zwischen Autorendaten und Kristall- oder Daten zur reduzierten Zelle
  • „Nicht“-Operator ist für jede Suche verfügbar
  • Suche nach jeder Kombination von L1, L2 und L3 für die größten Netzebenenabstände
  • Suche nach jeder Kombination von d1, d2 und d3 für die stärksten Linien
  • Suche nach jeder Kombination von Dmeas, Dcalc und Dstruc für Dichte
  • Die Suche im Periodensystem enthält And, Or, Just und Nicht-Boolsche Operatoren
  • Optionales ‘Yes/No/Maybe’ kann für die Suche im Periodensystem verwendet werden
  • Durch Kristallsymmetrie erlaubte Eigenschaften (d. h. Piezoeffekt)

Suchvoreinstellungen

  • Anzeige von Kristalldaten, Autorendaten, Reduzierte-Zelle-Parametern und Elementarzellenvolumen in Feldern
  • Suchvoreinstellungen – schnelle Auswahl existierender Sets in Anzeigefeldern möglich

Darstellungsmöglichkeiten

  • Hinzufügen und Löschen von Diffraktogrammen während der Bearbeitung mit der Möglichkeit, jedes Diffraktogramm an die Gegebenheiten anzupassen
  • Partikelgrößenfunktion für das Profil
  • Debye-Scherrer/Bragg-Brentano-Geometrie-Optionen
  • x-Achse-Optionen: 2θ, 1/d, d, Q
  • Graph kann im gezoomten Zustand gedreht werden
  • Verbesserte individuelle Importfunktion:
    - eigene Einstellungen speichern
    - 2-Theta-Korrektur
    - spezielle Wellenlänge verwenden
    - Hintergrund
    - verbesserte Darstellungseinstellungen
    - Linienfarbe ändern
    - Intensitäten auf höchsten Peak skalieren

SIeve+ 2015 - kauf
SIeve+ erlaubt die schnelle Suche und Identifikation von Materialien, durch die Nutzung automatisierter Hanawalt-, Fink- und Long-8-Suchen. Die Stärke von SIeve+ liegt in der Nutzung der modernen Computertechnik zur schnellen Bearbeitung von permutierenden Suchen in Hunderttausenden PDF-Einträgen. Das ermöglicht die Nutzung von Fink- und Long-8-Algorithmen, die aufgrund der gewaltigen Zahl an Permutationen in gedruckten Medien unmöglich wäre. Eine neue Funktion dieser Version ist der automatische Wechsel der acht stärksten Linien (Hanawalt), der 8 stärksten Linien mit den größten d-Werten (Fink) oder der 8 Linien mit den größten d-Werten (Long 8), um Übereinstimmungen zu finden, die den besten „Goodness of Match“-Wert (GOM) aufweisen. Diese Tauschoperationen wurden auch in die gedruckten Suchprotokolle integriert. In SIeve+ können diese Funktionen im Voreinstellungsmenü zu- und ausgeschaltet werden. Die Maske zur manuellen Suche bietet immer einen Sicherheitstest an, bei dem alle Linien des unbekannten Diffraktogramms mit denen der Referenz übereinstimmen müssen. Um diesen Vergleich darzustellen, wurde ein Gütewert für diesen Abgleich (Pattern GOM) erstellt. Die SIeve+-Anzeige erlaubt den Vergleich zwischen dem Standard-GOM-Wert und dem „Pattern GOM“-Wert. Die komplexen Darstellungsfunktionen erlauben den Vergleich der experimentellen Daten mit den SIeve+-Suchergebnissen.

SIeve+ nutzt entweder eingegebene d/I-Paare oder Dateien, die d-Werte oder zwei-Theta/I-Daten enthalten. Eine flexible Importfunktion kann eine Vielzahl verschiedener Dateien lesen; jede Anzahl an d/I-Paaren kann importiert werden. SIeve+ ist mit globalen Suchen und Suchpräferenzen unserer integrierten Software verknüpft. Das bedeutet, der Nutzer kann einen individuellen SIeve+-Importfilter erstellen, der auf die 65 Klassen von Suchmethoden oder deren Kombinationen zurückgreifen kann. Die Ergebnisse von SIeve+ können auch in Suchkriterien unserer Betrachtungssoftware integriert werden.

Zusätzliche Funktionen

    • Phasen werden in einer Tabelle angezeigt, mit Optionen zur Sortierung
    • Phasenauswahl hebt die zugehörigen Linien hervor
    • Farben unterscheiden Netzebenenabstände, die in einem Fenster angezeigt werden
    • Sitzungen inklusive Beispiele werden in XML-Dateien gespeichert
    • Einheiten werden den zugehörigen Anzeigefeldern hinzugefügt: Angström, Grad
    • Keine Begrenzung der Anzahl an gemessenen Linien
    • Keine Begrenzung der Anzahl an Phasen
    • Verbesserte Algorithmen (Geschwindigkeit und Funktion)
    • Pattern GOM
    • I/Ic für Suchergebnisse und Phasen
    • Verbesserte Importfunktion: eigene Einstellungen speichern
    • Zweiter Durchlaufsfilter eliminiert falsch positive Ergebnisse
    • Elektron-Diffraktomiesuche optimiert Algorithmen für die Suche nach Elektron-Diffraktomiedaten