PDF-2 - (Comprar)

El PDF-2 del 2008 del Powder Diffraction File contiene 211.107 entradas con 11.533 nuevos patrones experimentales y calculados. El PDF-2 del 2008 exhibe capacidades amigables. Cada entrada contiene una tabla de espaciamientos interplanares, intensidades relativas e índices de Miller. También se incluye información adicional como fórmula química, nombre de compuestos, nombre de minerales, fórmula estructural, sistema cristalino, datos físicos, parámetros experimentales y referencias si ésta es conocida. Cada entrada pasa por una revisión editorial rigurosa y ha sido indexada para búsqueda por subcarpetas. Contiene datos de la colección de datos experimentales de polvos del ICDD así como datos recolectados, editados y estandarizados de las bases de datos del NIST y de ICSD.

El PDF-2 incorpora el histórico Powder Diffraction File en CD-ROM. Esta base de datos está integrada a los sistemas de software de los fabricantes de equipos de difracción de rayos-X más importantes. Junto con el software de análisis de datos de los OEM´s, el PDF ofrece a científicos capacidades rápidas de análisis basadas en PC´s que les permite la identificación de materiales en los mejores laboratorios alrededor del mundo.

Rasgos importantes:

• 211.107 entradas (182.634 inorgánicas y 32.189 orgánicas)
• 102.552 entradas experimentales
• 98.488 entradas calculadas a partir de datos del ICSD
• 10.067 entradas calculadas a partir de datos del NIST
• 11.533 nuevas entradas
• 2.041 nuevas entradas experimentales
• 9.492 nuevas entradas del ICSD

El PDF-2 del 2008 está contenido en un CD-ROM compatible con la plataforma PC. El PDF-2 debe guardarse en su disco duro. Se debe utilizar software de visualización, como el DDView+ del ICDD u otro software desarrollado para la conversión de los datos del PDF-2 en formatos leíbles. Para utilizar el software de apoyo del ICDD (DDView y SIeve) se necesita adquirir las versiones actuales de dicho software. Contacte su proveedor de software para verificar si el suyo es compatible al momento de comprar o actualizar el PDF-2 del 2008. El software de visualización con capacidades de búsqueda/superposición está disponible a través de distribuidores y fabricantes de equipos autorizados por el ICDD.

Los precios de las licencias multianuales y por sitios están disponibles.

SOFTWARE DE APOYO DEL PDF-2

DDView 2008 – Comprar
DDView, el último software de extracción y visualización del ICDD, contiene muchas facilidades nuevas para proporcionar una mejor capacidad de disposición, búsqueda y filtrado de datos del Powder Diffraction File. El DDView está diseñado de forma que el PDF-2 en CD-ROM sea accesible en el ambiente Windows®. El DDView complementa el software desarrollado por terceros y los paquetes de software desarrollados por los fabricantes de equipos. También puede ser utilizado en un ambiente único PC con el PDF-2. Cada año, se actualiza el DDView para reflejar los cambios anuales en la base de datos. Comprando la licencia del DDView es la mejor manera de mantenerse actualizado con los cambios en la base de datos y complementar significativamente a otro software de visualización y análisis de datos.

Capacidades

• Las columnas de todas las tablas se pueden organizar, mover y cambiar de tamaño.
• Se puede ajustar el tamaño de los componentes internos de las ventanas.
• Los datos mostrados se pueden copiar en la papelera del sistema operativo.
• En la mayoría de las búsquedas numéricas están disponibles las Desviaciones Estimadas Estándar (ESD).
• Posibilidades de formas de búsqueda multi-funcionales.
• Los archivos de ayudas están integrados con las entradas del PDF.
• Existen nuevas subclases de Minerales: Condiciones No-ambientales y Sintéticos.

Visualización de las entradas del PDF

• Tabla de espaciamientos separables

• Las 3 líneas más intensas se señalan en negritas.
• Mejoras en la facilidad de exportación XML.
• Opciones de reporte: largo, corto, o con omisión de espacios sin datos.
• Vista de hasta 2 intensidades a la vez: rendija fija y rendija variable

Capacidades de Resultados

• Cálculos de valores promedios y desviaciones estándar (ESD).

• Parámetros de búsqueda se reflejan en la ventana de búsqueda

• Reorganización del contenido de las columnas mediante el botón medio del ratón.
• Separación de los datos seleccionados con el ratón en una ventana distinta.
• Habilidad para añadir cualquier campo directamente a los resultados a partir de las opciones del menú.
• Flexibilidad para ordenar las fórmulas entre los resultados de las búsquedas.

• Posibilidad de abrir múltiples tarjetas PDF al mismo tiempo

Características de la Búsqueda

• La búsqueda por autor y celda cristalina puede complementar la búsqueda de celdas reducidas. Se pueden buscar parámetros de celda y volúmenes dentro de rangos específicos o con márgenes de error (ESD’s).
• Los operadores Booleanos se pueden combinar con los operadores Just/Only en las búsquedas con la Tabla Periódica.
• Búsqueda en cualquier combinación de L1, L2 y L3 en “Long Lines”.
• Búsqueda en cualquier combinación de d1, d2 y d3 en “Strong Lines”.
• Búsqueda en cualquier combinación de “Dmeans”, “Dcalc” y “Dstruc” en densidades.

ICDD SUITE 2008 – Comprar

El ICDD Suite ofrece el software de visualización que usted necesita, junto con el software de búsqueda de indexado que usted quiera. Aunque que están disponibles en un solo CD, la licencia tanto del DDView como del SIeve se deben comprar en forma separada. El SIeve está disponible únicamente en el ICDD Suite, el cual comprende las licencias para ambos productos, tanto para el DDView y como el SIeve. Ambos están diseñados para trabajar con el PDF-2 del 2008. Los usuarios que deseen actualizar su PDF-2 también deben actualizar el software para que sea compatible con la actualización correspondiente.

Precios por licencias multianuales están disponibles tanto para el DDView como el SIeve al momento de comprar la licencia multianual del PDF-2.

SIeve

SIeve, el software de búsqueda de índices del ICDD, posibilita la búsqueda e identificación rápida de materiales utilizando las búsquedas de Hanawalt, Fink y Long-8 altamente automatizadas. SIeve está diseñado como un sustituto electrónico de los manuales de búsqueda e índices del ICDD. SIeve utiliza el poder computacional dinámico de los modernos PCs para realizar con mayor rapidez búsquedas permutadas en cientos de miles entradas de datos. Esto hace posible el uso de los algoritmos Fink y Long-8 que son imprácticos con material impreso, debido a su enorme tamaño. Otra característica es la rotación automática de las 3 líneas más fuertes (Hanawalt) o las 8 líneas más largas entre las más fuertes (Fink) o las 8 líneas más largas (Long 8) para buscar superposiciones que exhiban los mejores “Goodness of Match”(GOM). Hemos implementado una figura de mérito “Pattern GOM” que muestra una comparación, como los manuales impresos, donde todas las líneas del patrón desconocido debe superponerse con las líneas del o los patrones de referencia. La visualización de SIeve permite una comparación adicional GOM estándar y el GOM del patrón.

El SIeve trabaja tanto con entradas de pares de datos d/I o archivos electrónicos que contienen datos d/I o 2-theta/I. Una opción flexible de importación de texto puede leer una gran variedad de archivos de entrada, cualquier cantidad de pares d/I pueden ser importada. El SIeve está enlazado con las búsquedas Globales y Preferencias de Búsqueda del DDView. Esto significa que un usuario puede definir un filtro de entradas en SIeve basándose en cualquiera de los 45 métodos de búsqueda o combinaciones de ellas. Los resultados de SIeve también se pueden integrar con criterios de búsqueda de DDView.

El SIeve está disponible únicamente en el ICDD SUITE.

• Las fases se muestran en tablas con opciones de ordenamiento.
• Se muestra en azul el error relativo de las líneas superpuestas.
• Se destacan las fases cuyas líneas muestran superposiciones.
• Distintos colores distinguen los espaciamientos que caen entre las opciones posibles.
• Las sesiones, incluyendo ejemplos, se pueden guardar en archivos tipo XML.
• Se puede agregar unidades en los campos de visualización respectivos: angstroms, grados.
• No hay límites en el número de líneas experimentales.
• No hay límites en el número de fases.
• Mejores algoritmos (rapidez y funcionalidad)
• Nueva valoración: GOM del Patrón.
• Asignación de I/Ic a las superposiciones y a las fases.
• Opciones avanzadas de importación: propiedades para guardar