PDF-4 y Software de Apoyo

RASGOS IMPORTANTES DEL SOFTWARE DE SOPORTE DEL PDF-4
El software de búsqueda de datos del International Centre for Diffraction Data (ICDD) está integrado a todos los productos PDF. Este software proporciona más capacidades de visualización, búsqueda y filtro de datos para el formato PDF-4 del Powder Diffraction File (archivo de difracción del polvo). El programa contiene 65 métodos diferentes de búsqueda para filtrar el contenido de la base de datos con disposición personalizada para mostrar una selección de hasta 116 campos separados de datos. Utilizando la interfase búsqueda y selección de Java™, se pueden combinar varios métodos de búsqueda y selección de campos para producir una escogencia casi ilimitada de opciones de extracción de datos. Los criterios de búsqueda de nuestro software de búsqueda de datos también se pueden utilizar para centrar los resultados de la búsqueda de SIeve+, indexando los subconjuntos de entradas del PDF definidos por el usuario.

Capacidades:

  • Posibilidades de formas de búsqueda multifuncionales.
  • Se puede ajustar el tamaño de los componentes internos de las ventanas.
  • Los espacios de búsqueda se pueden bloquear y desbloquear.
  • Los datos mostrados se pueden copiar en la papelera del sistema operativo.
  • En la mayoría de las búsquedas numéricas están disponibles las Desviaciones Estimadas

Estándar (ESD).

  • Los archivos de ayudas están integrados con las entradas del PDF.
  • Patrones de difracción de electrón retrodispersivos.
  • Patrones de difracción de electrones.
  • Visualización de Distancias y ángulos de enlace.
  • Caja de herramientas de cálculos cristalográficos.
  • Enlaces de series de temperatura.
  • Visualización de estructura de cristal en 3D utilizando gráficos Jmol.

Visualización de las entradas del PDF

  • Simulación de patrones de polvo para rayos X, electrones o neutrones de cualquier longitud de onda.
  • Elección de perfiles de patrones simulados de polvo.
  • Vista de hasta 3 tablas de espaciamientos interplanares e intensidades con opciones de rendija fija, variable e intensidades integradas.
  • Se pueden desligar las tablas y moverlas para compararlas, ya sea lado a lado o incluidas una dentro de otra.
  • Las 3 líneas más intensas se señalan en negritas.
  • Adición de campos para descripciones de estructuras modulares.
  • Exportación de archivos CIF disponible para introducción en Rietveld y otros softwares de análisis.
  • Los datos cristalográficos se muestran en la sección de “Structure”, en la entrada del PDF.
  • Enlaces DOI activos en página de referencia.
  • Exportación XML mejorada.

Capacidades en la forma de los resultados

  • La mayoría de las columnas de la tabla de resultados se pueden mostrar de forma gráfica.
  • Añadir directamente una selección de cualquiera de las 116 áreas de las opciones del menú de preferencias, organizándolas, moviéndolas y reajustándolas a conveniencia.
  • Las columnas de todas las tablas de resultados se pueden organizar, mover y redimensionar con el ratón.
  • Abrir simultáneamente múltiples tarjetas del PDF con opciones de graficación múltiples de patrones digitales para grupos previamente seleccionados.
  • Cálculos de valores promedios y desviaciones estándar (ESD) para valores numéricos mostrados.
  • Los parámetros de búsqueda se muestran en la sección de resultados.
  • Reorganización del contenido de las columnas mediante el botón medio del ratón.
  • Separación de los datos seleccionados con el ratón en una ventana distinta.
  • Habilidad para añadir cualquier campo directamente a los resultados a partir de las opciones de menú de preferencia.
  • Flexibilidad para ordenar las fórmulas entre los resultados de las búsquedas.
  • Opciones añadidas en reportes de búsqueda en el menú de preferencias: título, campos de escala para ajuste de página.

Características de búsqueda

  • La búsqueda por autor y celda cristalina puede complementar la búsqueda de celdas reducidas. Se pueden buscar parámetros de celda y volúmenes dentro de rangos específicos o con márgenes de error (ESD).
  • Rápida conversión entre datos reportados por el autor y datos de celdas cristalinas o reducidas.
  • El operador “Not” está disponible en todo tipo de búsqueda.
  • Búsqueda en cualquier combinación de L1L2 y L3 en “Long Lines”.
  • Búsqueda en cualquier combinación de d1d2 y d3 en “Strong Lines”.
  • Búsqueda en cualquier combinación de “Dmeans”, “Dcalc” y “Dstruc” en densidades.
  • Propiedades permitidas por simetría cristalina. (i.e. Piezoelectric).
  • Las búsquedas en la tabla periódica incluyen los operadores booleanos “And, Or, Only, Just” y “Not”.
  • Búsqueda opcional en la tabla periódica “And, Or, Maybe”.
  • Propiedades permitidas de simetría de cristales (p. ej., Piezoeléctrica).

Preferencias de búsqueda

  • Se pueden mostrar campos para parámetros cristalinos, autores y celdas reducidas, además de volúmenes de celda unidad.
  • Preferencias de búsqueda— opción rápida de grupos existentes en campos de visualización.

Capacidades gráficas

  • Añadir y borrar patrones rápidamente con la posibilidad de ajustar cada patrón individualmente para funciones de perfiles instrumentales y de espécimen determinadas.
  • Funciones de perfil asociadas con tamaño de partículas.
  • Opciones de geometría Debye-Scherrer/Bragg-Brentano.
  • Opciones para el eje x: 2θ, 1/d, d, Q.
  • Los gráficos se pueden guardar alargados.
  • Capacidades avanzadas de exportación:

- Selección de varias formas para guardar
- Corrección en 2-theta
- Selección de la longitud de onda
- Fondo de Pantalla
- Propiedades de aumento de graficación
- Cambio del color de la línea
- Escala de intensidad del pico más alto

SIeve+ 2015 - comprar
SIeve+ posibilita una búsqueda e identificación rápida de materiales utilizando las búsquedas de HanawaltFink y Long-8 altamente automatizadas. SIeve+ se beneficia del poder computacional dinámico de los modernos PCs para realizar con mayor rapidez búsquedas permutadas en cientos de miles entradas de datos. Esto hace posible el uso de los algoritmos Fink y Long-8 que son imprácticos con material impreso, debido a su gran tamaño por las permutaciones. Una nueva característica para este lanzamiento es la rotación automática de las 8 líneas más fuertes (Hanawalt) o las 8 líneas más largas entre las más fuertes (Fink) o las 8 líneas más largas (Long 8) para buscar superposiciones que exhiban los mejores “Goodness of Match” (GOM). Históricamente, estas operaciones de rotaciones fueron anticipadas e integradas en los protocolos de los métodos de índices y de búsqueda de los manuales impresos, estos pueden activarse y desactivarse en SIeve+ utilizando la función de Preferencias. El esquema de búsqueda del manual impreso siempre ofrece una prueba de chequeo para la búsqueda, básicamente todas las líneas del patrón desconocido deben coincidir con todas las líneas del patrón de referencia. Para precisar esta comparación, hemos implementado una figura de mérito “Pattern GOM” que valora esta comparación. SIeve+ permite ver la comparación entre el GOM estándar y el GOM del patrón. Las funciones de la graficación de los datos digitalizados permiten comparaciones entre los datos experimentales y resultados de la búsqueda de SIeve+.
El SIeve+ trabaja tanto con entradas de pares de datos d/I o archivos electrónicos que contienen datos d/I o 2-theta/I. Una opción flexible de importación de texto puede leer una gran variedad de archivos de entrada, se puede importar cualquier cantidad de pares d/ISIeve+ está vinculado a las búsquedas Globales y a las Preferencias de Búsqueda de nuestro software para visualización integrado. Esto significa que un usuario puede definir un filtro de entradas en SIeve+ basándose en cualquiera de los 65 métodos de búsqueda o combinaciones de ellas. Los resultados del SIeve+ también pueden ser integrados al criterio de búsqueda de nuestro software de visualización.

Características Adicionales

  • Las fases se muestran en tablas con opciones de ordenamiento.
  • Se destacan las fases cuyas líneas muestran superposiciones.
  • Distintos colores distinguen los espaciamientos que caen entre las opciones posibles.
  • Las sesiones, incluyendo ejemplos, se pueden guardar en archivos tipo XML.
  • Se puede agregar unidades en los campos de visualización respectivos: angstroms, grados.
  • No hay límites en el número de líneas experimentales.
  • No hay límites en el número de fases.
  • Mejores algoritmos (rapidez y funcionalidad).
  • GOM del Patrón.
  • Asignación de I/Ic a las superposiciones y a las fases.
  • Opciones avanzadas de importación: propiedades para guardar.
  • Filtro “Second Pass” elimina los resultados faltos positivos.
  • La búsqueda de difracción de electrones optimiza el algoritmo de búsqueda de datos de difracción de electrones.