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FAITS MARQUANTS des logiciels de supports DE PDF-4
DDView+, le logiciel de visualisation de ICDD, est intégré au produit PDF-4. DDView+ offre davantage de possibilités de filtres d'affichage, de recherche et de données pour la version PDF-4 de Powder Diffraction File. Le programme inclut 44 méthodes de recherche différentes pour filtrer le contenu de la base de données avec un affichage sur commande d'une sélection de 65 champs de données séparés. Grâce à une interface dirigez-cliquez JavaTM, les diverses méthodes de recherches et les sélections de champs peuvent être combinées afin d'apporter un choix quasi-illimité d'options d'exploitation des données.

Sleve+ permet une recherche et une identification rapides des matériaux grâce aux recherches automatisées Hanawalt, Fink et Long-8. Tandis que Sleve+ présente la plupart des fonctionnalités des manuels d'indexation et de recherche de ICDD en version papier, il tire avantage de la puissance de calcul dynamique des PC modernes pour effectuer rapidement des recherches par permutation sur des centaines de milliers de données.

DDView+ 2007
Le logiciel de visualisation de ICDD, DDView+, est intégré à votre produit PDF-4. DDView+ offre davantage de possibilités de filtres d'affichage, de recherche et de données pour la version PDF-4 de Powder Diffraction File. Le programme inclut 44 méthodes de recherche différentes pour filtrer le contenu de la base de données avec un affichage sur commande d'une sélection de 65 champs de données séparés. Grâce à une interface dirigez-cliquez JavaTM, les diverses méthodes de recherches et les sélections de champs peuvent être combinées afin d'apporter un choix quasi-illimité d'options d'exploitation des données. De nombreuses nouvelles fonctionnalités ont été conçues pour PDF-4+, basées sur l'ajout des paramètres atomiques et des structures prototypes de la base Linus Pauling File.

Une liste imposante des nouvelles fonctionnalités et possibilités est donnée par la suite.

Nouvelles possibilités

• Dans tous les tableaux, les colonnes peuvent être classées par ordre croissant ou décroissant, déplacées et redimensionnées à l'aide de la souris
• Les éléments des fenêtres sont redimensionnables
• L’onglet de Recherche peut être déplacé hors de la fenêtre principale
• Les résultats affichés peuvent être copiés via le presse-papier
• Les écart-types (ESD) sont disponibles pour la plupart des recherches numériques
• Menu de recherche multifonctions
• Fichiers d'aide intégrés à la fenêtre PDF
• Nouveaux sous-répertoires de la base Minérale: non ambiante et synthétique
• Spectre d'électrons rétrodiffusés (prototype)
• Diagramme de diffraction électronique (prototype)
• Affichage des distances/angles de liaison

Nouvel affichage d'entrée de la base PDF

• Affichage jusqu'à 3 tableaux de distances interréticulaires et d'intensités avec un choix de fentes fixes, de fentes variables et d’intensités intégrées
• Utilisation de la possibilité de déplacement des fenêtres pour comparer des tableaux superposés ou placés côte à côte
• Les distances interréticulaires des réflexions les plus intenses sont en caractères gras
• Données cristallographiques affichées dans l'onglet "Structure" de la fiche PDF
• Exportation en format XML amélioré

Nouvelles possibilités du formulaire Résultats

• Ajout direct d’une sélection de champs parmi les 65 champs de l'option du menu Preferences, classement, déplacement, redimensionnement
• Ouverture de plusieurs fiches PDF simultanément, avec l'option d'afficher plusieurs diagrammes de diffraction pour les groupes sélectionnés
• Calculs de moyenne, valeur médiane et écart-type
• Paramètres de la recherche affichés dans le formulaire Résultats
• Classement classique par un clic du bouton du milieu de la souris sur l'en-tête des colonnes
• Données affichées dans une fenêtre séparée par un clic du bouton du milieu de la souris sur les cellules
• Possibilité d'ajouter directement un champ quelconque aux résultats à partir de l'option du menu Preferences
• Classement souple des formules pour les résultats de la recherche
• Rapport optionnel de la recherche dans les préférences: affichage personnalisé d'un titre, d’une mise en page

Nouvelles fonctionnalités de Recherche

• Les recherches par auteur ou par maille cristalline renvoient désormais à la recherche de mailles réduites. La recherche de paramètres et de volumes de mailles doit se faire dans un domaine de valeurs spécifié ou avec des limites d'erreurs (esd)
• Conversion immédiate entre les données des auteurs et les données cristallines ou la maille réduite
• Les opérateurs booléens peuvent être associés à Just/Only dans la recherche par le tableau périodique
• L'opérateur "Not" est valable pour toutes les recherches
• Recherche sur n'importe quelle combinaison de L1, de L2, et de L3 pour les plus grandes distances interréticulaires
• Recherche sur n'importe quelle combinaison de d1, de d2, et de d3 pour les réflexions les plus intenses
• Recherche sur n'importe quelle combinaison de Dmeas, Dcalc et Dstruct pour la densité
• Mélange des opérateurs booléens dans la recherche par le tableau périodique
• Propriétés autorisées par certaines symmétries cristallines (ex. piézoélectricité)

Nouvelles préférences de Recherche

• De nouveaux champs peuvent désormais être affichées pour les données cristallines, les auteurs, les paramètres de la maille réduite et les volumes de maille élémentaire
• Préférences de Recherche - sélection rapide des jeux de données existants sur des résultats de recherche

Nouvelles potentialité d'affichage graphique

• Ajoutez et effacez rapidement des diagrammes que vous pouvez ajuster individuellement avec des fonctions instrumentales et des fonctions de profil d'échantillons
• Fonction de profil associée à la taille des cristallites
• Géométrie de type Debye-Scherrer
• Axe des abscisses en 1/d
• Agrandissement du graphisme lors du zoom
• Personnalisation avancée: - Sauvegarde des réglages personnalisés - correction 2-theta
  - Longueur d'onde

- Fonds continu
- Options graphiques améliorés
- Couleur de trait modifiable
- Mise à l'échelle des intensités par rapport à la raie la plus intense

Sleve+ 2007 - Acheter
Sleve+ permet une recherche et une identification rapides des matériaux grâce aux recherches automatisées Hanawalt, Fink et Long-8. Tandis que Sleve+ présente la plupart des fonctionnalités des manuels d'indexation et de recherche de ICDD en version papier, il tire avantage de la puissance de calcul dynamique des PC modernes pour effectuer rapidement des recherches par permutation sur des centaines de milliers de saisies de données. Les algorithmes Fink et Long-8 sont ainsi non copiables, de par leur taille rendue conséquente avec la permutation. Une nouvelle fonctionnalité de cette version est la permutation automatique des 3 réflexions les plus intenses (Hanawalt), ou des 8 premières raies aux plus petits angles parmi les plus intenses (Fink) ou encore les 8 premières raies aux plus petits angles (Long-8), ce qui permet de rechercher les résultats proches présentant le meilleur facteur d'accord (GOM). Historiquement, ces opérations de permutation étaient déjà conçues et intégrées dans les principes de recherche manuelle - méthode d'indexation de la version papier; elles peuvent être sélectionnées ou ignorées dans Sleve+ via le menu Preferences. Le principe de la recherche manuelle sur papier permet toujours d'obtenir des indications de façon simple, c'est-à-dire que toutes les raies de diffraction du diagramme inconnu doivent correspondre à toutes les raies du(des) diagramme(s) de référence. Pour effectuer cette comparaison, nous avons appliqué un "GOM du diagramme". La sortie de Sleve+ permet la comparaison entre le GOM standard et le GOM du diagramme. Les fonctions étendues de représentation des données digitalisées permettent des comparaisons entre données expérimentales et résultats issus de la recherche par Sleve+.

Sleve+ travaille à partir d'un jeu de paires d/I ou de fichiers électroniques contenant des données sous forme d ou 2-theta/I. Un importateur de texte souple peut lire une grande variété de fichiers d'entrée; un nombre quelconque de paires d/I peut être importé. Sleve+ est relié aux menus Recherches Globales et Préférences de Recherche de DDView+. Ainsi, un utilisateur peut personnaliser un filtre d'entrée pour Sleve+ à partir des 48 méthodes de recherche ou de leurs combinaisons. Le résultat issu de Sleve+ peut aussi être introduit comme critère de recherche dans DDView+. Sleve+ est disponible sous licence dans DDView+ pour un prix additionnel et est activé pour une période d'essai libre de 30 jours ou jusqu'à enregistrement du produit.

Fonctionnalités supplémentaires

• Affichage des phases dans un tableau avec options de classement
• Erreur relative sur les raies concordantes indiquée en bleu
• La sélection des phases met en surbrillance les raies concordantes
• Des couleurs permettent de distinguer les distances interréticulaires d comprises dans une fourchette de concordance
• Les sessions incluant des exemples sont enregistrées dans des fichiers XML
• Les unités sont ajoutées aux champs correspondants: angstroms, degrés
• Nombre de raies expérimentales illimité
• Nombre de phases illimité
• Algorithmes améliorés (rapidité et fonction)
• Nouvelle évaluation: GOM du diagramme
• I/Ic pour les résultats concordants et les phases
• Personnalisation avancée: - Sauvegarde des réglages personnalisés