Logiciel de Support de PDF-4

FAITS MARQUANTS des logiciels de support de PDF-4
Le logiciel d’exploration des données de l’ICDD est intégré à tous les produits de la PDF. Ce logiciel offre davantage de possibilités de filtres d'affichage, de recherche et de données pour la version PDF-4 de la Powder Diffraction File. Le programme inclut 66 méthodes de recherche différentes pour filtrer le contenu de la base de données avec un affichage sur commande d'une sélection de 119 champs de données séparés. Grâce à une interface dirigez-cliquez JavaTM, les diverses méthodes de recherche et les sélections de champs peuvent être combinées afin d'apporter un choix quasi illimité d'options d'exploitation des données.
Les critères de recherche de notre logiciel d’exploration des données peuvent également être utilisés pour concentrer les résultats de la recherche-indexation de SIeve+ sur les sous-ensembles des entrées PDF définis par l’utilisateur.

Possibilités

  • Menu de recherche multifonctions
  • Les éléments des fenêtres sont redimensionnables
  • L’onglet de Recherche peut être déplacé hors de la fenêtre principale
  • Les résultats affichés peuvent être copiés via le presse-papier
  • Les écarts-types (ESD) sont disponibles pour la plupart des recherches numériques
  • Fichiers d'aide intégrés à la fenêtre PDF
  • Spectre d'électrons rétrodiffusés
  • Diagramme de diffraction électronique
  • Affichage des distances/angles de liaison
  • Boîte à outils de calculs cristallographiques
  • Liens vers des gammes de températures
  • Affichage en structure cristal 3D utilisant des graphiques Jmol

Affichage des entrées de la base PDF

  • Simulation de diagrammes de diffraction des rayons X, des électrons ou des neutrons par les poudres
  • Choix de profils simulés de diffraction par les poudres
  • Affichage jusqu'à 3 tableaux de distances interréticulaires et d'intensités avec un choix de fentes fixes, de fentes variables et d’intensités intégrées
  • Utilisation de la possibilité de déplacement des fenêtres pour comparer des tableaux superposés ou placés côte à côte
  • Les distances interréticulaires des réflexions les plus intenses sont en caractères gras
  • Champs ajoutés pour des descriptions des structures modulées
  • Exportation de fichiers CIF disponible pour entrée dans Rietveld et autre logiciel d’analyse
  • Données cristallographiques affichées dans l'onglet "Structure" de la fiche PDF
  • Liens DOI actifs en page de référence
  • Exportation en format XML améliorée

Possibilités du formulaire Résultats

  • La plupart des colonnes des tableaux de résultats peuvent s’afficher sous forme de graphiques
  • Ajout direct d’une sélection de champs parmi les 119 champs de l'option du menu ‘Préférences’, classement, déplacement, redimensionnement
  • Les colonnes de tous les tableaux de résultats peuvent être triées, déplacées et redimensionnées en un clic de souris
  • Ouverture de plusieurs fiches PDF simultanément, avec l'option d'afficher plusieurs diagrammes de diffraction pour les groupes sélectionnés
  • Calculs des moyenne, valeur médiane et écart-type pour les valeurs numériques affichées
  • Paramètres de la recherche affichés dans le formulaire Résultats
  • Classement classique par un clic du bouton du milieu de la souris sur l'en-tête des colonnes
  • Données affichées dans une fenêtre séparée par un clic du bouton du milieu de la souris sur les cellules
  • Possibilité d'ajouter directement un champ quelconque aux résultats à partir de l'option du menu ‘Préférences’
  • Classement convivial des formules pour les résultats de la recherche
  • Rapport optionnel de la recherche dans les préférences: affichage personnalisé d'un titre, d’une mise en page

Fonctionnalités de Recherche

  • Les recherches par auteur ou par maille cristalline renvoient à la recherche de mailles réduites. La recherche des paramètres et des volumes de mailles doit se faire dans un domaine de valeurs spécifié ou avec des limites d'erreurs (esd)
  • Conversion immédiate entre les données des auteurs et les données cristallines ou la maille réduite
  • L'opérateur "Not" est valable pour toutes les recherches
  • Recherche sur n'importe quelle combinaison de L1, de L2, et de L3 pour les plus grandes distances interréticulaires
  • Recherche sur n'importe quelle combinaison de d1, de d2, et de d3 pour les réflexions les plus intenses
  • Recherche sur n'importe quelle combinaison de D_meas, D_calc et D_struct pour la densité
  • La recherche par le tableau périodique comprend les opérateurs booléens And, Or, Only, Just, et Not
  • Recherche facultative par le tableau périodique avec « Yes/No/Maybe »
  • Propriétés autorisées par certaines symétries cristallines (ex. piézoélectricité)

Préférences de Recherche

  • Des champs peuvent être affichés pour les données cristallines, les auteurs, les paramètres de la maille réduite et les volumes de maille élémentaire
  • Préférences de Recherche - sélection rapide des jeux de données existants de champs d’affichage

Possibilité d'affichage graphique

  • Ajout et effaçage rapides des diagrammes que vous pouvez ajuster individuellement avec des fonctions instrumentales et des fonctions de profil d'échantillon
  • Fonction de profil associée à la taille des cristallites
  • Choix des géométries de Debye-Scherrer et/ou de Bragg-Brentano
  • Choix pour l’axe des abscisses : 2θ, 1/d, d, Q
  • Agrandissement du graphisme lors du zoom
  • Personnalisation avancée:
    - Sauvegarde des réglages personnalisés 
    - correction ‘2-theta’
    - Longueur d'onde
    - Fond continu
    - Options graphiques améliorées
    - Couleur de trait modifiable
    - Mise à l'échelle des intensités par rapport à la raie la plus intense

SIeve+ 2016 - acheter
SIeve+ permet une recherche et une identification rapides des matériaux grâce aux recherches automatisées de types ‘Hanawalt’, ‘Fink’ et ‘Long-8’. SIeve+ tire avantage de la puissance de calcul dynamique des PC modernes pour effectuer rapidement des recherches par permutation sur des centaines de milliers de saisies de données. Les algorithmes ‘Fink’ et ‘Long-8’ sont ainsi non copiables, de par leur taille rendue conséquente avec la permutation. Une nouvelle fonctionnalité de cette version est la permutation automatique des 8 réflexions les plus intenses (Hanawalt), ou des 8 premières raies aux plus petits angles parmi les plus intenses (Fink) ou encore les 8 premières raies aux plus petits angles (Long-8), ce qui permet de rechercher parmi les résultats obtenus ceux présentant le meilleur facteur d'accord (GOM). Historiquement, ces opérations de permutation étaient déjà conçues et intégrées dans les principes de recherche manuelle - méthode d'indexation de la version papier. Elles peuvent être sélectionnées ou ignorées dans SIeve+ via le menu ‘Préférences’. Le principe de la recherche manuelle sur papier permet toujours d'obtenir des indications de façon simple, c'est-à-dire que toutes les raies de diffraction du diagramme inconnu doivent correspondre à toutes les raies du(des) diagramme(s) de référence. Pour effectuer cette comparaison, nous avons appliqué un "GOM du diagramme". La sortie de SIeve+ permet la comparaison entre le GOM standard et le GOM du diagramme. Les fonctions étendues de représentation des données numérisées permettent des comparaisons entre données expérimentales et résultats issus de la recherche par SIeve+.

SIeve+ travaille à partir d'un jeu de paires d/I ou de fichiers électroniques contenant des données sous forme d/I ou 2θ/I. Un importateur de texte convivial peut lire une grande variété de fichiers d'entrée; un nombre quelconque de paires d/I peut être importé. SIeve+ est connecté à des recherches globales et des préférences de recherche depuis notre logiciel de visualisation. Ainsi, un utilisateur peut personnaliser un filtre d'entrée pour SIeve+ à partir des 66 méthodes de recherche ou de leurs combinaisons. Les résultats de SIeve+ peuvent être également intégrés dans le critère de recherche dans votre propre logiciel de visualisation. 

Fonctionnalités supplémentaires

    • Affichage des phases dans un tableau avec options de classement
    • La sélection des phases met en surbrillance les raies concordantes
    • Des couleurs permettent de distinguer les distances interréticulaires d comprises dans une fourchette de concordance
    • Les sessions incluant des exemples sont enregistrées dans des fichiers XML
    • Les unités sont ajoutées aux champs correspondants: angströms, degrés
    • Nombre illimité de raies expérimentales
    • Nombre illimité de phases
    • Algorithmes améliorés (rapidité et fonction)
    • Évaluation: GOM du diagramme
    • I/Ic pour les résultats concordants et les phases
    • Personnalisation avancée: - Sauvegarde des réglages personnalisés
    • Le filtre « Second Pass » (deuxième passage) élimine les résultats faux positifs
    • La recherche de diffraction électronique optimise l’algorithme pour la recherche des données de diffraction d’électrons