Λογισμικό PDF-4

PDF-4 ΛΟΓΙΣΜΙΚΟ ΥΠΟΣΤΗΡΙΞΗΣ
Όλα τα PDF-4 προϊόντα περιλαμβάνουν ενσωματωμένο λογισμικό εξόρυξης δεδομένων. Το λογισμικό αυτό παρέχει προχωρημένες δυνατότητες αναζήτησης και φιλτραρίσματος των δεδομένων με χρήση 66 διαφορετικών μεθόδων αναζήτησης και με προσαρμοσμένη εμφάνιση των 119 πεδίων δεδομένων.  Η υιοθέτηση τεχνολογίας Java ™ συνδυάζει το σύγχρονο interface  με την δυνατότητα συνδυασμού πολλαπλών φίλτρων ευρετηρίασης έχοντας ως αποτέλεσμα μια σχεδόν απεριόριστη ποικιλία επιλογών εξόρυξης δεδομένων. Για πιο ευέλικτη αναζήτηση, τα κριτήρια αναζήτησης μπορούν να ενσωματωθούν ως οριζόμενες από το χρήστη υποκατηγορίες μέσω του λογισμικού Sleve+.

Δυνατότητες  

  • Φόρμα αναζήτησης πολλαπλών λειτουργιών
  • Τα δεδομένα μπορούν να αντιγραφούν στο πρόχειρο (clipboard)
  • Εκτιμώμενη Τυπική Απόκλιση (ESD) για τις περισσότερες αναζητήσεις σε αριθμητικά δεδομένα
  • Πλήρες μενού βοήθειας ενσωματωμένο σε κάθε εγγραφή
  • Διάγραμμα οπισθοσκεδαζόμενων ηλεκτρονίων
  • Διάγραμμα περίθλασης ηλεκτρονίων
  • Μήκη δεσμών / Τιμές γωνιών
  • Παράθυρο εργαλείων κρυσταλλογραφικών υπολογισμών
  • Βαθμίδες θερμοκρασίας
  • 3D απεικόνιση με γραφικά Jmol

Προβολή εγγραφής

  • Υπολογισμός διαγραμμάτων περίθλασης κόνεως ακτίνων-Χ, νετρονίων ή ηλεκτρονίων
  • Ταυτόχρονη εμφάνιση μέχρι 3 πινάκων πλεγματικών αποστάσεων (d) και εντάσεων με επιλογή με σταθερού ή μεταβλητού διαφράγματος και κανονικοποιημένων εντάσεων
  • Ευκολία επισκόπησης με αποσπώμενα παράθυρα (undocking windows)
  • Οι 3 ισχυρότερες εντάσεις με έντονη γραμματοσειρά
  • Εξαγωγή σε αρχείο τύπου CIF (για προγράμματα Rietveld κλπ)
  • Τα κρυσταλλογραφικά δεδομένα απεικονίζονται σε ειδικό χώρο (tab section) της PDF κάρτας
  • Βελτιωμένη εξαγωγή  XML
  • Υπερσύνδεσμοι DOI στη σελίδα της βιβλιογραφίας

Δυνατότητες στη σελίδα των αποτελεσμάτων

  • Οι στήλες του πίνακα αποτελεσμάτων μπορούν να αποδοθούν γραφικά
  • Άμεση επιλογή ενός από τα 119 πεδία αναζήτησης του μενού “Preferences”
  • Όλες οι στήλες του πίνακα αποτελεσμάτων μπορούν να ταξινομηθούν, να μετακινηθούν και να αλλάξει το μέγεθός τους
  • Ταυτόχρονη προβολή πολλών καρτών PDF
  • Αυτόματοι υπολογισμοί για την μέση τιμή, τον διάμεσο, και την τυπική απόκλιση (ESD) για τις αριθμητικές τιμές
  • Οι παράμετροι αναζήτησης εμφανίζονται στη φόρμα αποτελεσμάτων
  • Ταξινόμηση με το μεσαίο πλήκτρο του ποντικιού στην κεφαλίδα της κάθε στήλης
  • Θέαση σε ξεχωριστό παράθυρο με το μεσαίο πλήκτρο του ποντικιού
  • Δυνατότητα προσθήκης οποιουδήποτε πεδίου αναζήτησης στα αποτελέσματα
  • Ταξινόμηση αποτελεσμάτων με πολλαπλούς τρόπους
  • Επιλογές εμφάνισης των αναφορών από το μενού “Preferences”

Δυνατότητες αναζήτησης

  • Αναζήτηση συγγραφέων  ταυτόχρονα με αναζήτηση κυψελίδας. Οι παράμετροι της κυψελίδας μπορούν να αναζητηθούν εντός ορίων τιμών (ESD's)
  • Άμεση (on-the-fly) μετατροπή από δεδομένα συγγραφέως σε κρυσταλλογραφικά δεδομένα (κυψελίδα)
  • Λογικός τελεστής "NΟΤ" διαθέσιμος σε κάθε αναζήτηση
  • Αναζήτηση σε οποιοδήποτε συνδυασμό των L1 , L2 και L3 για Long Line
  • Αναζήτηση σε οποιοδήποτε συνδυασμό των d1 , d2 και d3 για Strong Line
  • Αναζήτηση σε οποιοδήποτε συνδυασμό Dmeas , Dcalc και Dstruc για την Πυκνότητα
  • Αναζήτηση στον περιοδικό πίνακα με λογικούς τελεστές And, Or, Only, Just, και Not
  • Προαιρετικό ‘Yes/No/Maybe’ στην αναζήτηση στον Περιοδικό Πίνακα
  • Ιδιότητες κρυσταλλικής συμμετρίας (π.χ. πιεζοηλεκτρικοί κρύσταλλοι)
  • Επιλογές αναζήτησης: γρήγορη επιλογή πεδίων αναζήτησης
  • Προβολή πεδίων: κρύσταλλος, συγγραφέας, παράμετροι κυψελίδας

 
Δυνατότητες γραφικής απεικόνησης

  • Άμεση προσθήκη και αφαίρεση διαγραμμάτων (οn-the-fly). Δυνατότητα προσαρμογής κάθε διαγράμματος σε πειραματικά δεδομένα δείγματος ή οργάνου (instrument / specimen profile functions)
  • Συνάρτηση μεγέθους σωματιδίων (Particle Size profile function)
  • Επιλογή γεωμετρίας Debye-Scherrer/Bragg-Brentano
  • Επιλογές άξονα Χ: 2θ, 1/d, d, Q
  • Μετατόπιση και μεγέθυνση γραφήματος
  • Φίλτρα εισαγωγής δεδομένων
  • Αποθήκευση προσαρμοσμένων ρυθμίσεων
    • διόρθωση 2-θ
    • προσαρμογή μήκους κύματος
    • υπολογισμός υποβάθρου
    • προχωρημένες ρυθμίσεις γραφημάτων
    • επιλογή χρώματος σχεδίασης διαγράμματος
    • κανονικοποίηση εντάσεων στην μεγαλύτερη κορυφή

SIeve+ 2016 - purchase
Το πακέτο Sieve+ είναι το πρόγραμμα indexing του ICDD και παρέχει ταχεία αναζήτηση και ταυτοποίηση με τη χρήση των αυτοματοποιημένων προτύπων Hanawalt, Fink και Long-8. To Sleve εκμεταλλεύεται τη υπολογιστική ισχύ των σύγχρονων υπολογιστών για να εκτελέσει γρήγορα αναζητήσεις σε εκατοντάδες χιλιάδες καταχωρήσεις δεδομένων. Αυτό επιτρέπει συνδυασμούς με Fink και Long-8 αλγόριθμους. Επιπλέον η αυτόματη σύγκριση των 8 ισχυρότερων εντάσεων (Hanawalt) ή των 8 ισχυρότερων από Fink ή Long 8 συγκροτεί το βέλτιστο αποτέλεσμα μέσω του δείκτη Goodness of Match (GOM). Το έντυπο εγχειρίδιο αναζήτησης αναφέρει ότι όλες οι γραμμές του αγνώστου δείγματος πρέπει να συνδυάζονται με το δείγμα αναφορά. Για το λόγο αυτό ένα διάγραμμα αναφοράς “Pattern GOM” αποτελεί το κριτήριο ταυτοποίησης της άγνωστης φάσης. Επιπλέον συγκρίσεις γίνονται μέσω του Sleve+.

H λειτουργία του Sieve+ βασίζεται σε συγκρίσεις του τύπου d/I pairs ή δεδομένων d ή 2θ/I. Διατίθεται φίλτρο εισαγωγής πολλαπλών αρχείων κειμένου με απεριόριστο αριθμό δεδομένων του τύπου d/I.
Το Sleve+ παρέχει την δυνατότητα συνδυασμένων αναζητήσεων με βάση πολλαπλά κριτήρια αναζήτησης με βάση 66 ευρετηριαζόμενα πεδία.

Επιπρόσθετα χαρακτηριστικά

  • Δυνατότητα ταξινόμησης φάσεων
  • Επιλογή της φάσης υπερτονίζει τις σχετικές κορυφές στο διάγραμμα
  • Διαφορετικός χρωματισμός για d-spacings εντός συγκεκριμένου εύρους
  • Δυνατότητα αποθήκευσης εργασίας σε μορφή XML
  • Κατάλληλες μονάδες στα πεδία: angstroms, degrees
  • Χωρίς όριο ανάλυσης κορυφών διαγράμματος
  • Χωρίς όριο ταυτόχρονων φάσεων
  • Βελτιωμένοι αλγόριθμοι
  • Διάγραμμα GOM
  • Δείκτης I/Ic
  • Αποθήκευση επιλογών
  • Δευτερεύον φίλτρο αφαιρεί τα ψευδώς θετικά αποτελέσματα
  • Βελτιστοποιημένος αλγόριθμος για δεδομένα περίθλασης ηλεκτρονίων