Добро пожаловать

Международный центр дифракционных данных® (ICDD®) – некоммерческая научная организация, деятельность которой посвящена сбору, редактированию, публикации и распространению данных порошковой дифракции для использования при идентификации кристаллических материалов. Членами ICDD являются представители академических кругов, правительственных организаций и промышленности по всему миру.

Добро пожаловать на ICDD интернет-сайт на русском языке.

С данного сайта вы можете выйти на несколько интернет-страниц на русском, которые содержат разнообразную информацию о продуктах и услугах, предоставляемых Международным центром дифракционных данных (ICDD). Эти страницы обозначены синим цветом ниже. Страницы на русском языке являются переводом соответствующего им английского текста.

Пожалуйста, используйте ссылки на английском для получения информации о конкретных продуктах, а также информации (по состоянию на сегодняшний день) об образовательных курсах и других связанных с этим событиях.
Научный работник, член ICDD, владеющий двумя языками, сможет помочь вам, если у вас возникнут вопросы или потребуются разъяснения.

Oб ICDD

Roman Shpanchenko
Dr. Roman Shpanchenko

Samsung SDI Co. Ltd.
ICDD Member
ICDD Website Russian Language Liaison
roman.shpa@samsung.com

Миссия ICDD

Обзор продуктов

PDF-4

Програмное обеспечение PDF-4

PDF-2 и  программное обеспечение

Членство – Как стать членом

Курсы и обучение

Гранты

 

ССЫЛКИ НА АНГЛИЙСКУЮ ВЕРСИЮ ICDD ИНТЕРНЕТ-САЙТА:

ICDD E-Store  - ICDD интернет-магазин
What’s New at ICDD - Что нового в ICDD 
ICDD Events and Exhibits - События и выставки ICDD 
Newsletters and Press Releases - Бюллетени и пресс-релизы

«Порошковая дифракция» — ежеквартальный журнал, посвящённый использованию порошковых методов для характеризации материалов — Смотрите Содержание каждого выпуска — ICDD вводит новую цену подписки для студентов на журнал «Порошковая дифракция». Цена годовой подписки — 35,00 долларов США.

ICDD сообщает о предоставлении доступа в Adobe Acrobat PDF формате к трудам Денверовской рентгеновской конференции: The Advances in X-ray Analysis – Proceedings of the Denver X-ray Conference, тома 40 - 53. Просматривайте по названию или ищите по ключевому слову, включая имя автора. Результат выдаст название, автора и размер файла.