Програмное обеспечение PDF-4

ФАКТЫ О ПРОГРАММНОМ ОБЕСПЕЧЕНИИ БАЗЫ ДАННЫХ PDF-4
Программное обеспечение ICDD по интеллектуальному анализу данных встроено во все программы PDF. Данная программа ICDD предоставляет расширенные возможности показа, поиска и фильтрации данных в базах данных порошковой дифракции (Powder Diffraction File) в формате PDF-4. Программа включает 66 различных метода поиска, чтобы фильтровать содержание базы данных при отображении на экране пользователя 119 отдельных полей данных. Java™ интерфейс «указал-щёлкнул» позволяет комбинировать различные методы поиска и отбора полей информации, в результате чего возможности нахождения данных становятся практически безграничными. Критерии поиска в нашем программном обеспечении по интеллектуальному анализу данных также могут быть использованы, чтобы сосредоточиться на результатах с помощью поискового модуля SIeve на определяемых пользователем подгруппах записей PDF.

Возможности

  • Многофункциональная форма поиска
  • Размер компонентов внутри окон может меняться
  • Ярлыки поиска могут быть расстыкованы
  • Изображённые данные могут быть скопированы в буферную ячейку на экране
  • Для большей части численных поисков может быть оценено стандартное отклонение (ESD – estimated standard deviation)
  • Занесения-статьи PDF (Файл порошковой дифракции) укомплектованы файлами помощи (Help files)
  • Электронограмма обратного рассеяния
  • Электронограмма дифракции
  • Показ длин и углов связей
  • Инструментарий для кристаллографических расчетов
  • Ссылки на температурные серии
  • 3D кристаллическая структура дисплея с помощью Jmol графики


Вывод на экран занесений-статей PDF

  • Воспроизведение порошкограммы для длины волны рентгена, электрона и нейтрона
  • Выбор воспроизведенных профилей порошкограмм
  • Отображение до 3 таблиц межплоскостных расстояний и интенсивностей с возможностью выбора фиксированной щели, дивергентной щели и интегральных интенсивностей
  • Использование возможности расстыковки для передвижения таблиц и сопоставления их либо одну внутри другой, либо рядом
  • Три наиболее сильных отражения жирным шрифтом
  • Добавлены поля для описания моделированных структур
  • Экспорт CIF файла, доступный для ввода в метод анализа Ритвельда и другого программного обеспечения
  • Кристаллографические данные выводятся на экран в секции карточки PDF, озаглавленной «Структура»
  • Ссылки на идентификаторы DOI в режиме он-лайн на справочной странице
  • Улучшенное выведение растягивающимися файлами (ХML export)

 
Возможности представления результатов

  • Большинство результатов в колонках могут быть графически отображены
  • Прямой ввод из меню Preferences (Выбора) любого отобранного из 119 полей информации с произведением сортировки, передвижения, изменения размера
  • Колонки таблиц со всеми результатами могут быть отсортированы, передвинуты, их размер изменён, «кликом» мышки
  • Одновременное открытие нескольких карточек PDF и построение графиков с одновременным нанесением нескольких цифровых дифрактограмм по выбору пользователя
  • Расчеты среднего, медианы, стандартного отклонения для отображенных числовых значений
  • Параметры поиска отображаются на форме результатов
  • Указание на заголовок колонки и щелчок средней кнопкой мыши производит стандартную сортировку
  • Указание на ячейку колонки и щелчок средней кнопкой мыши выводит данные в отдельное окно
  • Способность прямого добавления любого поля из меню Preferences к странице результатов
  • Гибкая сортировка по формулам в результатах поиска
  • Дополнительные возможности сводки-отчёта по поиску в меню Preferences: рекомендуется название, размер полей может быть подогнан к размеру страницы

Характеристики поиска

  • Авторский поиск и поиск кристаллической ячейки дополняет поиск уменьшенной (reduced) ячейки. Поиск параметров и объёма ячейки производится внутри заданного интервала значений или величины стандартного отклонения (ESD)
  • Немедленный пересчёт авторских данных в параметры полной или уменьшенной ячейки
  • Оператор «Нет» доступен для любого поиска
  • Поиск для любой комбинации L1, L2 и L3 рефлексов с высокими (Long) межплоскостными расстояниями
  • Поиск для любой комбинации d1, d2 и d3 сильных отражений
  • Поиск для любой комбинации данных по плотности: D измер., D рассчит., D структ.
  • При поиске периодические таблицы могут быть включены And, Or, Only, Just и булевые операторы
  • При поиске периодической таблицы могут быть включены дополнительно Yes/No/Maybe
  • Свойства, разрешённые кристаллической симметрией (например, пьезоэлектрические)


Поисковые возможности в меню Preferences

  • Поля могут быть выведены на экран с авторскими данными, а также данными о кристаллической и уменьшенной ячейке и объёмам элементарной ячейки
  • Быстрый выбор среди существующих вариантов полей экрана    

Графические возможности

  • Немедленное графическое добавление и удаление дифрактограмм при способности индивидуального приведения каждого графика в соответствие с параметрами инструмента и образца
  • Учёт эффекта размера частиц на профиль графика
  • Выбор типа геометрии Дебай-Шерреровской/Брэгг-Брентанно
  • Выбор 2, 1/d, Q по оси x
  • График может отслеживаться при увеличении масштаба изображения
  • Усовершенствование возможностей для пользователей:
    - Запоминание настроек пользователя
    - Коррекция величин 2-тета
    - Учёт длины волны
    - Учёт фона
    - Улучшенная настройка на выполнение графиков
    - Изменение цвета линий
    - Изменение интенсивностей пропорциональное интенсивности наиболее сильного пика

    SIeve+ 2016 - purchase
    SIeve+ обеспечивает быстрое нахождение и идентификацию веществ, используя высокоавтоматизированные поиски по методу Ханаволта (Hanawalt), Финка (Fink) и по последовательности 8-ми отражений, отвечающих наибольшим межплоскостным расстояниям (Long-8). Преимущества программы SIeve+ основаны на использовании вычислительной мощности современных персональных компьютеров для совершения быстрого поиска через перебор сотен тысяч введённых данных. Становится возможным пользование алгоритмами метода Финка и Long-8, практическое использование которых в случае опоры на печатные руководства затруднено из-за чудовищного количества необходимых шагов. Новой характеристикой этого продукта является автоматическое циклическое чередование 8 самых сильных линий (Hanawalt), 8 рефлексов, отвечающих наибольшим межплоскостным расстояниям среди сильнейших линий (Finк), и последовательности 8 отражений, отвечающих высоким межплоскостным расстояниям (Long 8) в поисках соответствия, приводящего к наилучшей надежности совпадения (Goodness of Match – GOM). Исторически эти циклические операции предполагались и входили в протокол печатного руководства по поиску-нахождению; при пользовании программой SIeve+ они могут включаться-выключаться при помощи выбора из меню Preferences. Схема поиска по печатному руководству всегда предлагает, как лакмусовую бумажку для определения, необходимость соответствия всех линий неизвестной дифрактограммы всем линиям справочной дифрактограммы. Чтобы проводить это сопоставление, мы ввели в программу операцию сравнения надежности совпадения дифрактограммы “Pattern GOM”. Экран SIeve+ позволяет проводить дальнейшее сравнение между GOM стандартного вещества и GOM данной дифрактограммы. Усиленные функции графического изображения, базирующегося на цифровой компьютерной информации, расширяют возможности проведения сравнения экспериментальных данных с результатами проведения поиска при помощи SIeve+.  

    SIeve+ работает как с введением d/I спаренных величин, так и электронных файлов, которые содержат d или 2-тета/I данные. Легко приспособляемый импортер текста может читать широкое разнообразие вводных файлов; любое количество d/I пар может быть введено. Модуль SIeve+ связан с функциями глобального поиска и параметров поиска нашей интегрированной программы для просмотра. Это означает, что пользователь может по своему усмотрению установить в программе SIeve+ вводной фильтр, базирующийся на любом из 66 классов поисковых методов или их комбинаций. Результаты, полученные с помощью модуля SIeve+, можно вводить в критерии поиска нашей программы для просмотра.

Дополнительные характеристики

  • Фазы представлены в таблице с возможностью сортировки
  • Линии сопоставления, отвечающие выбранным фазам, выделяются на графиках
  • Цветом выделены межплоскостные расстояния, которые попадают в окно соответствия
  • Посещение XМL (растягивающихся) файлов позволяет увидеть примеры
  • На полях, выведенных на экран, поясняются соответствующие единицы: ангстремы, градусы
  • Нет ограничения на число экспериментальных линий
  • Нет ограничения на число фаз
  • Усовершенствованные алгоритмы (скорость и функции)
  • Дифрактограмма Pattern GOM
  • I/Ic для сопоставляемых фаз
  • Усовершенствованный пользовательский ввод: сохраняются пользовательские настройки
  • Фильтр «второго прохода» удаляет ложноположительные импульсы
  • Поиск электронной дифракции оптимизирует алгоритм для поиска данных электронной дифракции